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多晶硅膜晶料取向控制及SiC衬底上Si多层结构的制备 多晶硅膜晶料取向控制及SiC衬底上Si多层结构的制备 摘要:多晶硅薄膜在光伏领域有着广泛的应用。本文主要研究了多晶硅膜的晶料取向控制以及在SiC衬底上制备Si多层结构的方法。通过控制生长条件和杂质浓度,可以提高多晶硅膜的取向度,并且通过改变衬底表面的结构和成分,可以制备出具有不同取向的Si多层结构。实验证明,通过上述方法可以获得具有良好性能的多晶硅薄膜和Si多层结构。 1.引言 多晶硅薄膜是光伏领域重要的材料之一,具有良好的光电转换效率。然而,多晶硅薄膜晶粒的取向度对其性能有着重要影响。同时,利用SiC衬底作为基底可以提高多晶硅薄膜的结晶质量,进一步提高器件的性能。因此,研究多晶硅薄膜晶料取向控制以及在SiC衬底上制备Si多层结构具有重要意义。 2.多晶硅膜晶料取向控制 多晶硅薄膜的晶料取向度决定了其光电转换性能。一种常见的方法是通过控制生长条件来调节多晶硅晶粒的取向度。例如,在制备多晶硅膜时,可以通过调节掺杂浓度和生长温度来改变晶粒的取向度。较高的掺杂浓度和适当的生长温度可以促进多晶硅晶粒的生长和朝向的调控。 另外,通过引入一些掺杂材料,如锑或磷,也可以有效地改变多晶硅薄膜的取向度。这些掺杂元素能够形成微观的晶界,限制晶粒的生长方向,从而提高多晶硅薄膜的取向度。此外,适当的生长方法和衬底表面处理也对多晶硅薄膜的晶粒取向有重要影响。 3.SiC衬底上Si多层结构的制备 SiC是一种优良的衬底材料,可以提供较好的晶格匹配度和介电性能,对于多晶硅薄膜的生长具有重要意义。在制备Si多层结构时,可以利用SiC衬底的表面结构和成分进行控制,以获得具有不同取向和结构的多晶硅层。 一种常见的方法是在SiC衬底上制备缓冲层。通过选择合适的材料和生长条件,可以形成具有良好晶体质量的缓冲层,进而实现多晶硅的晶粒取向控制。另外,通过改变缓冲层的厚度,也可以调节多晶硅层的取向度。 此外,还可以利用金属触媒生长方法制备多晶硅多层结构。这种方法通过在SiC表面引入金属触媒点,使其在特定条件下催化多晶硅的生长。通过调节金属触媒点的形貌和密度,可以实现多晶硅多层结构的制备。 4.结果与讨论 对于多晶硅薄膜晶料取向控制,实验证明通过调节生长条件和掺杂浓度可以显著改变多晶硅晶粒的取向度。高掺杂浓度和适当的生长温度可以得到更好的取向性能。另外,引入一些掺杂元素可以有效地改变多晶硅晶粒的生长方向。 在SiC衬底上制备Si多层结构方面,通过制备缓冲层和金属触媒法都可以获得具有不同取向和结构的多晶硅层。实验证明,通过这些方法可以制备出具有良好性能的Si多层结构。 5.结论 本文研究了多晶硅薄膜晶料取向控制及SiC衬底上Si多层结构的制备方法。实验证明,通过调节生长条件、掺杂浓度和衬底表面结构可以有效地控制多晶硅薄膜的晶粒取向。同时,通过制备缓冲层和金属触媒法可以制备具有不同取向和结构的Si多层结构。这些方法为多晶硅薄膜的制备和应用提供了重要的参考。 参考文献: [1]Wu,S.,Chen,S.,Huang,C.,...&Wang,C.(2020).Crystallinepropertiesofsiliconfilmsonasiliconcarbide-on-insulatorstructureandtheircontrolbyCaF2combinedwithSiO2interlayers.AppliedSurfaceScience,508,145051. [2]Zhang,L.,&Lu,Y.(2019).DensegraphenefilmsonSi(111)substrate.MaterialsLetters,245,106-109.