子孔径拼接检验离轴非球面方法的研究的开题报告.docx
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子孔径拼接检验离轴非球面方法的研究的开题报告.docx
子孔径拼接检验离轴非球面方法的研究的开题报告一、研究背景和意义在现代光学系统中,使用非球面透镜可以获得更好的成像效果。然而,在制造和测量过程中难度较大,因此需要采用高精度的离轴反射式测量方法。子孔径拼接检验方法是一种高精度、高精度的测量方法,可以用于测量离轴非球面。这种方法最初用于大型望远镜,后来被应用于其他离轴非球面测量中,因此研究该方法的实现和优化对于提高非球面透镜的制造和测量精度具有重要意义。二、研究目的和内容研究主要目的是探究子孔径拼接检验方法在离轴非球面测量中的应用和发展,分析方法优劣,在实际制
非球面环形子孔径拼接干涉测试方法研究.docx
非球面环形子孔径拼接干涉测试方法研究综合超光栅干涉仪和非球面环形子孔径拼接技术,提出了一种新型的干涉测试方法。该方法能够对非球面光学元件的全孔径显微形状进行高精度的测试和拼接,并且能够有效地减少测量误差和拼接残差,具有广泛的应用前景。一、研究背景随着现代光学技术的不断发展,非球面光学元件在光学系统中的应用越来越广泛。然而,传统的球面干涉测试技术只能测量球面形状,无法满足非球面光学元件的测试需求。因此,开发一种可以测量非球面光学元件全孔径显微形状的新型干涉测试方法,具有重要意义和应用价值。二、技术方案该方法
非球面环形子孔径拼接干涉测试方法研究的综述报告.docx
非球面环形子孔径拼接干涉测试方法研究的综述报告概述干涉测试是一种非常重要的光学测试方法,广泛用于光学制造、光学设计和光学应用等领域。传统的干涉测试方法主要以球面为测试对象,可以通过球面干涉仪进行测试。然而,对于非球面光学元件的测试,球面干涉仪并不能如此方便地完成任务。因此,非球面干涉测试方法应运而生。其中,非球面环形子孔径拼接干涉测试方法是近年来发展的一种全新的测试方案,因其具有分辨率高、精度高、测量范围广等优点而受到广泛关注。本文将从原理、实验平台和应用等方面进行综述。原理非球面环形子孔径拼接干涉测试方
环形子孔径拼接高精度非球面检测技术研究的开题报告.docx
环形子孔径拼接高精度非球面检测技术研究的开题报告一、选题背景与意义子孔径光学元件(SubapertureOpticalElements,SOE)是一种高精度光学元件,目前广泛应用于望远镜、导航系统、激光器等高精度光学系统中。SOE利用多个小孔径的镜面拼接形成一个整体,可以大幅度提高光学元件的精度和性能,并且降低制造难度和成本。SOE的制造过程中需要进行高精度的非球面检测,以确保单个小孔径镜面的表面质量符合要求,并且整个SOE各个小孔径之间的平整度和平整度误差要达到很高的水平。因此,开发高精度的非球面检测技
基于环形子孔径拼接法检测非球面研究.docx
基于环形子孔径拼接法检测非球面研究摘要:随着光学技术的不断提高,非球面光学元件在光学系统中的应用越来越广泛。但是非球面光学元件的表面形状是复杂的,常规的检测方法难以满足其高精度的检测要求。本文针对非球面光学元件的检测问题,提出了一种基于环形子孔径拼接法的检测方法。该方法利用环形子孔径的测量数据,通过拼接算法得到非球面光学元件的整体表面形状。实验结果表明,该检测方法能够有效地检测非球面光学元件的表面形状,并且具有高精度和可靠性。关键词:非球面光学元件,环形子孔径,拼接算法1.引言非球面光学元件是一种具有复杂