预览加载中,请您耐心等待几秒...
1/3
2/3
3/3

在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

高精度片上电源的研究与实现的任务书 任务书 一、课题背景 随着集成电路芯片设计的进一步发展,片上功耗的增加已经成为制约芯片功能、稳定性、可靠性的瓶颈之一。为提升芯片的功耗管理能力和集成度,研究高精度的片上电源成为了必要的环节。 目前,高精度片上电源的研究包括两个方面,一是设计高精度电压参考源(VREF),二是设计高精度低压降稳压器(LDO)。其中,电压参考源设计是提高稳压器精度的基础,而低压降稳压器作为芯片内部电源管理的重要组成部分,对于芯片噪声、抗干扰、抗电压波动等性能都有着很大的影响。 基于此,本研究计划开展高精度片上电源的研究与实现,旨在提高集成电路芯片的功耗管理能力和稳定性,降低电路的功耗,并提高芯片的抗干扰性能、可靠性和可扩展性,为实现高效、节能的集成电路设计提供技术支持。 二、研究内容及方法 本研究主要分为两个部分,分别是高精度电压参考源的设计和高精度低压降稳压器的设计。具体内容和研究方法如下: (一)高精度电压参考源的设计 1.研究常用的电压参考源设计方法及其优缺点,重点分析基于CMOS工艺的电压参考源设计,包括带有操作放大器(Op-Amp)的电压参考源、集成电路中常用的基于BJT的电压参考源等,综合比较优缺点并选择最优方案。 2.详细分析电压参考源的设计流程,包括基本电路结构、电路参数选择、电路元件的布局与优化、非理想因素的补偿等方面。 3.利用EDA软件进行仿真验证,对比分析设计方案的精度、稳定性和噪声指标等关键性能指标。 (二)高精度低压降稳压器的设计 1.研究常用的低压降稳压器设计方案,重点探讨基于CMOS工艺的低压降稳压器设计方案。包括开环控制型和闭环控制型,对比分析其性能指标,并选择最优方案。 2.详细分析低压降稳器的电路结构、电路参数选择、DC/DC变换原理等关键性能指标,并优化设计方案。 3.进行电路模拟分析和实验验证,测试低压降稳器的静态电流、稳定性、噪声等性能指标。 三、预期成果 1.设计出高精度电压参考源和高精度低压降稳器两种高性能电路,实现片上电源的高精度管理。 2.对于高精度电压参考源的设计方案,将提出优化方案,实现电路自补偿,提高其稳定性和精度;对于高精度低压降稳器的设计方案,将针对非线性因素和动态响应等进行分析和优化。 3.进行电路模拟分析和实验验证,得到精度、噪声、稳定性等性能指标,并与现有成熟方案进行对比分析,验证高精度片上电源的实际效果,为后续应用提供技术支持和参考。 四、计划进度 本研究总共计划用时6个月,具体进度安排如下: 第1-2月:文献调研和基础理论学习 1.学习现有电压参考源和低压降稳器的设计方案,分析其优缺点。 2.学习电路模拟软件MentorGraphics的使用方法,为后续仿真建模做准备。 第3-4月:电压参考源的设计方案研究和仿真分析 1.结合理论知识,设计高精度电压参考源,选择合适的电路结构和元件,考虑非理想因素的影响。 2.利用MentorGraphics仿真软件进行电路模拟验证,对设计方案进行优化和改进。 第5-6月:低压降稳器的设计方案研究和实验验证 1.设计高精度低压降稳器,优化设计方案,考虑各种非线性因素,并进行电路模拟分析。 2.利用实验室的测试设备对设计成功进行实验验证,测试其性能指标,包括精度、噪声、稳定性等。 五、参考文献 1.LuWen-Chang,KuoFu-Wei,ChangJinn-Cherng.DesignandImplementationofaHigh-PrecisionBandgapVoltageReferencewith25ppm/°C􀀭TemperatureCoefficient[J].ICTExpress,2017,3:105-109. 2.Bao-ManLi,Guo-RuiXia,LeiSongetal.ALowDropoutRegulatorbasedonCMOSTechnologywithLowSquare-VoltageRippleOutput[C],ICCSCE.IEEE,2016:423-427. 3.HongJie,HuangFeifei,TanYangetal.AnEnhancedUltra-LowPowerHigh-VoltageStart-UpCircuitforDC-DCConverters[C],APCCAS.IEEE,2017:1103-1106. 4.RenXianjun,LiuCheng,LiYanliangetal.ANovelLow-NoiseBandgapVoltageReferencewithPositiveTemperatureCoefficientandHighPSRforSoC[D],CICC.IEEE,2016:1-4.