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用于同步辐射的计数型SOI像素探测器研究的任务书
任务书：
一、研究背景及意义
同步辐射是一种能够提高物质分析和材料表征实验能力的先进技术，广泛应用于物理、化学、材料科学等领域。同步辐射的特点是能够提供大量的高强度、高能量的X射线和光子束，便于进行高分辨率的实验测量。而SOI像素探测器则是一种在物理、材料科学等领域中已经得到广泛应用的非常重要的探测器。
然而，在同步辐射技术中，由于物质横截面较小、辐射通量较弱等原因，使得现有的像素探测器难以满足高分辨率、高计数率的要求，因此，研发一种适用于同步辐射的计数型SOI像素探测器具有重要意义。
二、研究内容
1.确定计数型SOI像素探测器的制备方案：通过文献调查和实验研究，确定计数型SOI像素探测器的制备方案，包括材料选择、器件制备工艺等。
2.设计计数型SOI像素探测器的结构参数：研究不同结构参数对器件性能的影响，并对器件进行仿真优化，确定最佳结构参数。
3.制备计数型SOI像素探测器样品：根据确定的制备方案，制备出一批计数型SOI像素探测器样品，并对其进行表征。
4.测试计数型SOI像素探测器的性能参数：使用同步辐射源对制备完成的计数型SOI像素探测器进行测试，包括灵敏度、分辨率、计数率等性能参数的测试。
5.分析测试结果并进行优化：根据测试结果进行分析，并进行器件性能优化，进一步提高器件的检测能力和应用范围。
6.编写报告：对研究过程和结果进行总结，撰写实验报告并形成完整论文。
三、研究目标
1.研发适用于同步辐射的计数型SOI像素探测器。
2.提高探测器的灵敏度、分辨率和计数率，满足同步辐射实验需要。
3.为基础物理、化学、材料科学等领域的实验研究提供新型的硬X射线和软X射线探测器。
4.发布国际高水平SCI论文，提升团队学术影响力。
四、研究方法
1.文献调查：搜集国内外文献，查阅相关资料，总结计数型SOI像素探测器的制备和测试方法。
2.理论计算：使用相关软件对计数型SOI像素探测器进行物理仿真分析，确定最佳器件结构参数。
3.材料制备：根据确定的制备方案，选用合适的材料和工艺制备计数型SOI像素探测器样品。
4.性能测试：使用同步辐射源对样品进行测试，测量器件的灵敏度、分辨率和计数率等性能参数。
5.分析优化：对测试结果进行分析，优化器件性能，并确定提高器件性能的方案。
6.报告撰写：对研究过程和结果进行总结，撰写实验报告，形成完整论文。
五、研究经费
本项目研究经费为80万元，主要用于设备采购、材料购买和实验费用等。
六、研究进度安排
本项目计划历时两年，按以下进度安排：
第一年：文献调查、理论计算、材料制备和器件测试。
第二年：数据分析、性能优化和论文撰写。
七、预期目标成果
1.研制计数型SOI像素探测器，提高同步辐射实验的灵敏度、分辨率和计数率。
2.在同步辐射领域发表SCI学术论文1-2篇。
3.为同步辐射技术的发展作出贡献，推动基础物理、化学、材料科学等领域的进步。