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基于片上系统低功耗测试的编码压缩技术研究的开题报告
一、选题背景和研究意义
随着移动设备的普及，人们对于片上系统低功耗测试的需求越来越高。而在进行低功耗测试时，编码压缩是一种非常重要的技术。编码压缩可以将原始测试数据压缩，从而实现在存储和传输过程中节省存储空间和带宽资源的目的。此外，编码压缩还可以减少测试数据的传输时间，从而加快测试速度。因此，研究基于片上系统低功耗测试的编码压缩技术有着重要的实际意义和应用价值。
二、研究内容和目标
本研究主要围绕基于片上系统低功耗测试的编码压缩技术进行展开，重点研究二进制代码压缩技术在片上系统低功耗测试中的应用。具体包括以下三个内容：
1、研究二进制代码压缩算法，分析其适用性和优缺点。
2、探讨二进制代码压缩算法在片上系统低功耗测试中的应用，比较其与传统的数据压缩算法在测试时间、节省存储空间和带宽资源等方面的不同表现。
3、结合实际应用场景，利用FPGA或ASIC实现二进制代码压缩算法并对其进行性能测试和优化。
三、研究方法和技术路线
本研究的具体方法和技术路线如下：
1、搜集和阅读相关文献，了解二进制代码压缩的基本原理和算法。
2、根据研究目标和实际应用需求，选择适合的二进制代码压缩算法，并对其进行适当的改进和优化。
3、运用VerilogHDL语言设计并实现二进制代码压缩算法，并进行FPGA或ASIC的测试。
4、通过实验结果分析优化二进制代码压缩算法的性能，优化其内部结构以及某些参数。
5、最后，对实验结果进行数据分析和总结，得出结论和未来研究方向。四、预期成果
本研究的预期成果如下：
1、总结目前常见的二进制代码压缩算法，分析其在片上系统低功耗测试中的适用性和优缺点。
2、探索二进制代码压缩算法在片上系统低功耗测试中的应用，比较其与传统的数据压缩算法在测试时间、节省存储空间和带宽资源等方面的不同表现。
3、设计并实现基于二进制代码压缩技术的片上系统低功耗测试平台，对其进行性能测试和优化。
4、总结和分析实验结果，阐述未来研究方向。
五、参考文献
[1]Zhang,X.Y.,Li,C.B.,&Liu,Y.F.(2015).Low-powertestingforsystem-on-chipwithsoftware-controlledcompression.JournalofSystemsArchitecture,61(3–4),90–98.
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[3]Wang,Y.,Li,L.,&Li,W.(2013).ALowPowerDFTwithEmbeddedOnlineDataCompression.CircuitsandSystems,05(01),7–13.
[4]Ostrovsky,R.,&Epshtein,E.(2016).Onlinedictionarycompressionforlow-powerBIST.IEEETransactionsonIndustrialElectronics,63(4),2523–2532.
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