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PN结正向压降与温度关系的研究实验报告 班级:材物41姓名:禇雨婷学号:2140906001 一、实验目的 (1)了解PN结正向压降随温度变化的基本关系,测定PN结特性曲线及玻尔兹曼常数; (2)测绘PN结正向压降随温度变化的关系曲线,确定其灵敏度及PN结材料的禁带宽度; (3)学会用PN结测量温度的一般方法。 二、实验仪器 SQ—J型PN结特性测试仪,三极管(3DG6),测温元件,样品支架等. 三、实验原理 1.PN结特性及玻尔兹曼常数k的测量: 由半导体物理学中有关PN结的研究可以得出PN结的正向电流与正向电压满足以下关系 =(exp—1)⑴ 式中e为电子电荷量、k为玻尔兹曼常数,T为热力学温度,为反向饱和电流,它是一个与PN结材料禁带宽度及温度等因素有关的系数,是不随电压变化的常数。由于在常温(300K)下,kT/q=0。026,而PN结的正向压降一般为零点几伏,所以exp》,1上式括号内的第二项可以忽略不计,于是有 ⑵ 这就是PN结正向电流与正向电压按指数规律变化的关系,若测得半导体PN结的关系值,则可利用上式以求出e/kT。在测得温度T后,就可得到e/k常数,将电子电量代入即可求得玻尔兹曼常数k。 在实际测量中,二极管的正向关系虽能较好满足指数关系,但求得的k值往往偏小,这是因为二极管正向电流中不仅含有扩散电流,还含有其它电流成份。如耗尽层复合电流。、表面电流等.在实验中,采用硅三极管来代替硅二极管,复合电流主要在基极出现,三极管接成共基极线路(集电极与基极短接),集电极电流中不包含复合电流。若选取性能良好的硅三极管,使它处于较低的正向偏置状态,则表面电流的影响可忽略。此时集电极电流与发射极—基极电压满足⑵式,可验证该式,求出准确的e/k常数. 2.PN结材料禁带宽度的测量: 由物理学知,PN结材料禁带宽度是绝对零度时PN结材料的导带底和价带顶间的电势差有如下关系 ⑶ ⑶式中,r是常数,C是与结面积、掺杂浓度等有关的参数,将⑶式代⑴式后两边取对数得 ⑷ 其中 ⑷式即为PN结正向压降、正向电流和温度间的函数关系,它是PN结温度传感器工作的基本方程。若保持正向电流恒定即常数,则正向压降只随温度变化,显然,⑷式中除线性项外还含有非线性项,但可以证明当温度变化范围不大时(对硅二极管来说,温度范围在—50℃-150℃)引起的误差可忽略不记。因此在恒流供电条件下,PN结的正向压降对环境温度T的依赖关系主要取决于线性项,即PN结的正向压降随温度升高而线性下降,这就是PN结测温的依据。但必须指出,这一结论仅适用于杂质全部电离、本征激发可以忽略的温度区间。若温度过高或过低(不在上述温度范围),则随着杂质电离因子减少或本征载流子迅速增加,关系的非线性变化将更为严重,说明特性还与PN结的材料有关.实验证明,宽带材料(如GaAs)构成的PN结,其高温端线性区宽,而材料(如Insb)杂质电离能小的PN结,其低温端的线性区宽,对于给定的PN结,即使在杂质导电和非本征激发温度范围内,其线性度随温度的高低也有所不同,这是非线性项引起的.由⑷式可以看出,减小,可以改善线性度,但这不能从根本上解决问题,目前行之有效的方法是利用对管的两个be结(即三极管基极和集电极短路后与发射机组成一个PN结)分别在不同电流下工作,得到两者电压差与温度间的线性关系: 使之与单个PN结相比线性度与精度有所提高.将这种电路与恒流、放大等电路集成一体,便构成集成电路传感器。 根据⑷式,略去非线性,可得 Vg=VF(0)+VF(0)ΔT/T=VF(273.2)+S·ΔT(5) ΔT=-273。2ºK为摄氏温标与开尔文温标之差,S为正向压降随温度变化灵敏度. 四、实验装置 实验用具由样品架和测试仪两部分构成,样品架结构如图所示,其中A为样品室.待测样品PN结管是将三极管3DG6的基极与集电极短接后作为正极,其发射极作为负极构成的一只二极管,它和测温元件(AD590)均置于铜座B上,待测PN结的温度和电压信号输入测试仪. 测试仪由恒流源,基准电源和显示单元等组成。测量电路的框图如下图所示。Ds待测的PN结.恒流源1提供If,电流输出在0~1000A范围内连续可调,恒流源2用于加热,控温电流为0.1—1A,分为十档,每档改变电流0。1A。可根据不同的升温速度要求选择档位。基准电源主要用于“ΔV"的调零. 五、实验内容 1。测量玻尔兹曼常数k 在一定温度的条件下,测量的关系曲线,实验可在室温下进行. 2.测量PN结材料禁带宽度 将“测量选择"开关K拨到If,调节If=50μA,将K拨到VF,记下起始温度TS时的VF(TS)值,再将K置于ΔV,调节使ΔV=0。 测定ΔV-T关系曲线:打开电源开关,逐步提高加热电流,测量ΔV所对应的T值,ΔV每变化10mV记录T的值。测量时应注意