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InP基HEMT器件模型研究的任务书 任务书 研究题目:InP基HEMT器件模型研究 研究目的: InP基HEMT(HighElectronMobilityTransistor)器件是当前高频电子学中一种重要的射频(RadioFrequency)功率放大器,使用InP材料的HEMT器件具有很高的截止频率和噪声系数,是现代通信系统中不可或缺的关键部件。而建立InP基HEMT器件的电学模型,是进行HEMT器件仿真研究和性能优化的必要步骤之一。 本次研究旨在建立InP基HEMT器件的电学模型,研究其电学性能,为HEMT器件的设计和优化提供一定的理论依据。 研究内容: 1.InP基HEMT器件的结构和工作原理分析 2.基于InPHEMT器件的物理特性,建立HEMT器件的电学模型 3.基于所建立的HEMT器件电学模型,进行仿真和分析,研究InP基HEMT器件的电学性能 4.与实验结果对比,确定所建立的HEMT器件的电学模型的可靠性和精度 实验方案: 1.制备InP基HEMT器件样品 2.测量InP基HEMT器件的电学性能,并进行分析 3.基于所获取的实验数据,建立InP基HEMT器件的电学模型 4.进行HEMT器件的仿真分析,并与所获得的实验数据进行对比 5.在数据库中储存所建立的HEMT器件电学模型,便于之后的使用和优化 预期目标: 1.成功建立InP基HEMT器件的电学模型,对HEMT器件的电学性能进行详细研究 2.对所建立的HEMT器件电学模型进行分析和验证,确定其可靠性和精度 3.为InP基HEMT器件的设计和优化提供一定依据,促进HEMT器件在高频通信系统中的应用 研究周期: 本次研究计划周期为三个月,具体内容和进度如下: 第一月:制备InP基HEMT器件样品,并测量器件的电学性能 第二月:根据实验数据建立HEMT器件的电学模型,进行HEMT器件的仿真分析 第三月:进行HEMT器件电学模型的验证和分析,确定其可靠性和精度,并将所建立的模型存入数据库 参考文献: [1]PanC,LongY,WuC.APhysics-BasedGaNHEMTModelforHigh-FrequencyCircuitSimulation[J].IEEEAccess,2018,6:33270-33284. [2]ZuoT,LiL,ChenT,etal.AnalyticalandextractedmodelforInP-basedHEMTs[J].MicrowaveandOpticalTechnologyLetters,2017,59(12):2922-2927. [3]LatticeSemiconductorCorporation.LatticeSC/MHEAC:LatticeSCAndLatticeSCMHigh-SpeedMemoryInterfaceSolutions.2005. [4]ShurMS,GaskaR,KirchnerPD,etal.TemperaturedependenceofelectronvelocityinInPandGaAsfield-effecttransistors[J].AppliedPhysicsLetters,1985,46(2):273-275. [5]SkowronskiM,KwonSK,ChoiWK,etal.InP-basedHEMThigh-speedelectronics[C]//InternationalPhysicsandControlofIII-VCompounds.1985:489-492.