预览加载中,请您耐心等待几秒...
1/3
2/3
3/3

在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

窄禁带半导体InGaAs和HgCdTe的磁输运性质研究的任务书 任务书 任务名称:窄禁带半导体InGaAs和HgCdTe的磁输运性质研究 任务描述:研究窄禁带半导体InGaAs和HgCdTe的磁输运性质,包括磁阻、霍尔效应、磁电阻等。 任务目的:理解窄禁带半导体的磁输运性质,探索其在磁电子器件中的应用前景,提高磁电子器件的性能。 任务要求: 1.研究InGaAs和HgCdTe的磁输运性质,分析其机理。 2.研究制备窄禁带半导体的方法,并优化生长条件,提高材料的质量。 3.测量材料的电学性质和磁学性质,包括电导率、霍尔系数、饱和磁阻、磁滞回线等。 4.分析实验结果,得出窄禁带半导体在磁电子器件中的应用前景。 5.撰写研究报告,详细介绍研究过程、方法、结果及结论,论文字数不少于5000字。 任务计划: 一、文献研究:对InGaAs和HgCdTe的磁输运性质的文献进行查阅,并总结窄禁带半导体在磁电子器件中的应用前景,时间为3天。 二、实验准备:包括材料制备和实验装备的准备,时间为7天。 1.生长InGaAs和HgCdTe材料,并使用X射线衍射仪、扫描电镜等设备对材料进行表征。 2.使用霍尔效应测量仪、电阻计、超导磁强计等设备,测量材料的电学性质和磁学性质。 三、实验操作:在实验室内进行磁输运性质的测量,时间为14天。 1.使用霍尔效应测量仪测量材料的霍尔系数,并计算电导率。 2.使用超导磁强计和磁滞回线测量仪测量材料的饱和磁阻和磁滞回线。 3.使用磁电阻测量仪测量材料的磁电阻。 4.记录数据并进行数据处理。 四、数据分析:对实验数据进行统计和分析,得出结论,时间为7天。 五、结果展示:撰写研究报告,时间为5天。 1.文章标题 2.摘要 3.引言 4.材料制备 5.实验方法 6.实验结果与分析 7.结论 8.参考文献 任务完成时间:共计36天。 预算: 本研究的预算为10万元。 1.材料制备:20000元 2.实验仪器:50000元 3.实验耗材:8000元 4.论文出版费用:20000元 该研究的结果对半导体材料和磁电子器件的领域都具有重要的参考价值,我们期待着更深入的研究发现和更好的应用前景。