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本章学习目标9.1硬件抗干扰措施概述9.2软件的抗干扰设计9.3故障自动检测程序检查ROM最常用的方法是采用校验和法。即在将程序写入ROM时,保留一个单元(一般是最后一个单元)不写程序码而写入校验字,使ROM的每一列(即字节的各位)具有奇数(或偶数个)1,从而使ROM的校验和为全1(或全0),如表9.1所示是8×8ROM,前面7个单元写入的是程序代码,最后一字节写入校验字11001010B,使最后的校验和为全1。校验程序则从ROM的第一个单元开始,按位相加,最后的校验和若与设置的全1(或全0)相等,则说明ROM内容正确,否则指示ROM出错,如图9.3所示。图9.3ROM自检程序流程图表9.1ROM自检原理表图9.4RAM自检程序框图3.A/D、D/A转换器的自检程序 A/D和D/A转换器在微机控制系统中占有重要的地位,其转换精度直接影响着系统的控制运算精度。因此对它的检查,常看作正常运行操作的一部分,并周期性的进行。 4.面板显示装置的检查 面板显示装置的检查一般有两种形式。一种形式是让面板上的各显示器的所有字段都发光,然后再使所有字段都不发光,以检查显示器与其相应接口及功放电路是否均处于正常工作状态。当表明工作正常之后,按下任何一个按键装置均应脱离初始自检方式,给出某种正常工作的符号,进入其他工作状态。另一种形式是显示某些特征字符(一般是显示系统的名称或代号),几秒钟自动消失,进入其他初态或某种操作状态。显示自检程序如图9.5所示。 图9.5显示器自检程序流程图5.总线及插件自检 总线自检是检查经过缓冲器的总线(或称外部总线)。总线检查的目的是为了检查信息传递是否正确。通常微处理器的总线是通过缓冲器与各插件及I/O接口器件相连接的。由于总线没有记忆能力,检测总线时总要外加相应的锁存器保存总线信息(地址信息和数据线上的信息),这样只要对相应的锁存器执行一条输出指令,使地址线或数据线上的信息保存在锁存器中,然后再对该锁存器进行读入操作,即可将地址线或数据线的信息重新读入CPU。把读入的信息与原来输出的信息相比较,即可判断外部总线是否出现故障。9.4远动装置的故障检测及诊断3.CPU的故障检测 CPU是微机系统的核心部件,CPU如有故障就无法进行工作。CPU的电路相当复杂,以功能来检查比从电路来检查更为合宜。CPU的功能体现在执行各条指令中。指令执行是否正确可以用其他的指令完成同一功能来比较。例如一个数自身相加等于这个数左移一位,因此可以用加法指令来检验左移指令。 对CPU的检查,通常就是送入试验数据,通过一系列基本运算段落,对CPU的功能分别进行检查,只有功能正确方能继续执行下一段落,否则就指出故障所在区段。通过全部运算段落后可认为CPU工作正常。 4.模拟量采集及模数转换的故障检测 模拟量遥测输入回路包括采样多路开关及模数转换两部分。采样多路开关的故障有:多路开关内部译码器故障,多路开关始终导通、始终断开以及元件特性的变坏引起的测量误差等。模数转换器中的标准电源、控制逻辑、数模网络、数码寄存器等也可能发生故障,致使模数转换的结果不合标准。9.5数据滤波程序9.5.1数字滤波的优点9.5.2数字滤波器1.程序判断滤波(2)限速滤波。 限速滤波是用三次采样值决定采样结果,设采样时刻t1,t2,t3,所采集的参数分别是Y(1),Y(2),Y(3),则 当|Y(2)-Y(1)|≤ΔY时,Y(2)输入计算机 当|Y(2)-Y(1)|>ΔY时,Y(2)不采用,但仍保留,继续采样取得Y(3)。 当|Y(3)-Y(2)|≤ΔY时,Y(3)输入计算机。 当|Y(3)-Y(2)|>ΔY时,则取[Y(2)+Y(3)]/2输入计算机。2.中值滤波3.算术平均值滤波4.一阶惯性滤波程序5.复合数字滤波9.6变电站内的电磁兼容9.6.1电磁兼容定义9.6.2变电站内电磁干扰产生的原因及其特点2.电磁干扰的耦合途径 电磁干扰耦合的途径可归纳为如下几种: (1)电容性耦合。 (2)电感性耦合。 (3)共阻抗耦合。 (4)辐射耦合。3.电磁干扰可能造成的后果 (1)电源回路干扰的后果。 (2)模拟量输入通道干扰的后果。 (3)开关量输入、输出通道干扰的后果。 (4)CPU和数字电路受干扰的后果。9.7变电站抗电磁干扰的措施9.7.1抑制干扰源的影响2.减少强电回路的感应耦合 (1)控制电缆尽可能离开高压母线和暂态电流的入地点,并尽可能减少平行长度。 (2)电流互感器回路的A、B、C相线和中性线应在同一根电缆内,避免出现环路。 (3)电流和电压互感器的二次交流回路电缆,从高压设备引出至监控和保护安装处时,应尽量靠近接地体,减少进入这些回路的高频瞬变漏磁通。9.7.2接地和减少共阻抗耦合2.二次系统接地 二次系统接地分安全接地(保护接地)和工作接地两大类