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基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量.pptx
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基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量.pptx
添加副标题目录PART01PART02耦合光腔衰荡技术介绍测量高反射率的意义测量原理及方法PART03测量系统组成光学元件选择与设计系统调试与优化PART04实验数据获取数据处理与分析方法结果对比与误差分析PART05在光学薄膜检测中的应用在激光雷达与光谱分析中的应用在其他领域的应用前景PART06研究结论未来研究方向与展望感谢您的观看
2024-10-02
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基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法研究.docx
基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法研究基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法研究摘要：高反射率测量在光学领域有着广泛的应用，尤其是在激光器、光学镜片等方面。本文通过研究耦合光腔衰荡技术，提出了一种基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法。通过实验验证了该方法的可行性和准确性。本文的研究为高反射率测量提供了新的思路和方法。关键词：高反射率测量；耦合光腔衰荡技术；准确性1.引言高反射率测量一直是光学领域的研究热点之一。高反射率材料在激光器、光学镜片等器件中起着关键的作用，因此对其反射率的准确测量具有重要意义
2024-10-27
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基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法研究的开题报告一、题目基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法研究二、研究背景与意义腔衰荡（cavitydecay）是指在空腔中储存能量的时间。在光学器件中，腔衰荡与反射率密切相关。测量高反射率镜（highreflectancemirror）的方法是很重要的，在很多应用领域如激光器，高品质因子谐振腔，纳米光学等，都需要精确测量高反射率很高的元件性能。传统的测量方法如Fabry-Perot干涉仪或者瞬态反射法，因为在实验过程中会受到温度变化等因素的干扰，导致测量结果不准确
2024-10-08
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基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法研究的任务书.docx
基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法研究的任务书任务书1、研究背景高反射率的测量是光学研究和技术应用领域中非常重要的一个课题。在半导体激光器、光纤通讯系统、光学薄膜和光学仪器等领域中，高反射率的测量对于保证设备性能和生产质量具有决定性的作用。传统的高反射率测量方法采用的是波长测量仪和平面样品，但是，对于曲面或非平面样品，这种方法并不适用。而且，因为测量的准确性和精度的要求不断提高，对于样品的形态、材料特性、波长精度和时间精度都提出了严格的要求。因此，研发一种新的高反射率测量方法变得越来越重要。2、研究目
2024-10-13
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一种耦合光腔衰荡高反射率测量装置.pdf
本发明公开一种耦合光腔衰荡高反射率测量装置,包括激光光源(1)、指示光源(2)、分光反射镜(3)、平面反射镜(4)、耦合镜(5)、平面腔镜(6)、第一高反腔镜(7)、第一聚焦透镜(8)、光电探测器(9)、第二高反腔镜(10)、第二聚焦透镜(11)、CCD相机(12)、计算机(13)和待测样片(14);其中,所述平面腔镜(6)、第一高反腔镜(7)和第二高反腔镜(10)构成衰荡腔,所述耦合镜(5)反馈光与衰荡腔内光场相干增强,所述光电探测器(9)记录激光光源(1)经衰荡腔后的光腔输出信号,所述CCD相机(12
2023-05-10
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