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基于ARM系统的表面粗糙度测量仪的设计的中期报告
一、项目背景与意义
现代制造业中，表面粗糙度是测量零件表面质量的重要指标之一，在测量过程中常常需要使用专用仪器。基于ARM系统的表面粗糙度测量仪可以提供精准的表面质量参数，为零件品质的控制提供了有力的技术支持。
二、项目目标
本项目旨在设计一款基于ARM系统的表面粗糙度测量仪，具有以下目标：
1.实现高精度测量，能够满足工业应用需求。
2.设计简单、易于操作、易于维护。
3.价格低廉，可接受度高。
三、项目计划
本项目分为以下几个阶段：
1.硬件设计：包括传感器选型和接口设计，电路设计等。
2.软件设计：包括系统框架设计，采样和处理算法设计等。
3.整机调试和测试：对硬件和软件进行集成、调试和测试。
四、当前进展
1.硬件设计：选择了AD7747为传感器芯片，并设计了传感器接口电路。此外，还选用了STM32F103核心板和LCD显示模块。
2.软件设计：已完成系统架构和程序框架的设计，包括了采样和处理算法的实现。
3.整机调试和测试：正在进行中。
五、存在问题与解决方案
1.硬件与软件的对接问题。解决方案：设计已经完成的硬件和软件进行集成测试，并对接进行调试。
2.精度问题。解决方案：根据要求，进一步优化采样和处理算法。
3.成本问题。解决方案：进行产品设计时，注重降低成本，选择性价比更高的器件和材料。
六、下一步工作计划
1.完成整机调试和测试，进一步验证系统的功能和性能。
2.根据测试结果对系统进行细节优化，并提高精度要求。
3.进行产品优化与升级，提高用户体验并拓展市场。
四月十二日