AlGaAsGaAs HEMT电磁脉冲损伤机理研究的任务书.docx
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AlGaAsGaAs HEMT电磁脉冲损伤机理研究的任务书.docx
AlGaAsGaAsHEMT电磁脉冲损伤机理研究的任务书任务书题目:AlGaAs/GaAsHEMT电磁脉冲损伤机理研究背景和意义:电磁脉冲(EMP)是在高能电子、电磁场交互作用下产生的瞬态电磁波,其频率范围和能量级别涵盖了从微波到超高频的范围,同时其能量密度可达到数百千焦/立方米。EMP能够对无线电通信、导航、电力供应和控制系统等现代化设备造成巨大的破坏。高电场和高电压的EMP可引起绝缘材料击穿,形成电弧,会导致设备可靠性下降,性能恶化,甚至毁坏。AlGaAs/GaAs异质结场效应晶体管(HEMT)由于其
HEMT器件电磁脉冲毁伤机理仿真分析及试验研究.docx
HEMT器件电磁脉冲毁伤机理仿真分析及试验研究摘要电磁脉冲(EMP)是一种强大的电磁辐射,它可能对电路和器件造成严重的毁伤。高电子迁移率晶体管(HEMT)器件是一种常见的高频功率放大器,也是EMP影响下的脆弱部件之一。本文通过建立HEMT器件的物理数学模型,对EMP对其内部结构的电场、电压和电荷密度的影响进行了仿真分析,并设计了相应的实验验证。实验结果表明,EMP会导致HEMT器件的极化电容和电感通有电流波动,同时还会在门极和源极之间形成暂态电压,这些现象导致HEMT器件失效。关键词:高电子迁移率晶体管,
双极晶体管电磁脉冲损伤机理研究的综述报告.docx
双极晶体管电磁脉冲损伤机理研究的综述报告在现代社会中,电子设备已经成为人们日常生活中必不可少的一部分。随着互联网和物联网的发展,电子设备的种类和数量不断增加。但是,随着频繁使用和不当使用,电子设备面临着各种电磁干扰和电磁波损伤。其中,双极晶体管的电磁脉冲损伤已成为研究的热点话题。双极晶体管是一种半导体器件,以其高可靠性和良好的稳定性而广泛用于各种电路中。然而,当双极晶体管遭受电磁脉冲损伤时,它们的性能会受到严重影响,这可能导致电路的失效。因此,对双极晶体管电磁脉冲损伤机理的研究非常重要。电磁脉冲是指突然而
微电子器件电磁脉冲损伤机理及防护技术研究.docx
微电子器件电磁脉冲损伤机理及防护技术研究近年来,全球范围内电磁脉冲(EMP)事件频发,给各个行业带来了巨大的损失和影响。在电子领域,微电子器件受到EMP的损伤是一项重要的研究内容。本文将从微电子器件受到EMP损伤的机理入手,探讨防护技术的研究现状和未来发展方向。一、微电子器件受到EMP损伤的机理与过程EMP是指电磁波通过介质,电线或空气等以瞬时高强度的方式传递至电子系统中,引起电信号的瞬时干扰甚至损伤。微电子器件受到EMP损伤的机理可分为直接效应和间接效应两类。1.直接效应当电磁波有足够强度时,会产生电场
MOSFET的强电磁脉冲损伤效应研究的任务书.docx
MOSFET的强电磁脉冲损伤效应研究的任务书任务书:一、课题背景随着电力电子装置的广泛应用,MOSFET(金属氧化物半导体场效应管)已经成为电路设计的关键元件之一。然而,在实际应用中,MOSFET因为电压过高、电流过大等原因,易于受到电磁脉冲(EMP)等强电磁场的影响而损坏。特别是在航空航天、轨道交通和核电等高端领域中,对于电子元器件的稳定性和可靠性要求更高,因此研究MOSFET的强电磁脉冲损伤效应,对于提高电子元器件的可靠性和稳定性非常重要。二、研究目的本研究的主要目的是对MOSFET在强电磁脉冲作用下