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低银无铅焊点电迁移性能的研究的任务书 任务书 课题名称:低银无铅焊点电迁移性能的研究 课题背景 随着环保意识的提高和环保法规的严格实施,无铅焊接成为了电子行业的重要趋势。然而,无铅焊接中使用的银含量较高,容易引起电迁移现象,从而影响电子器件的可靠性。因此,研究低银无铅焊点的电迁移性能,具有重要的工程实际意义。 研究任务 本课题旨在研究低银无铅焊点的电迁移性能,主要任务如下: 1.研究低银无铅焊点的制备工艺,选用适当的材料和工艺参数,制备出低银无铅焊点样品。 2.对制备出的低银无铅焊点样品进行电迁移实验,研究低银无铅焊点的电迁移规律,并与传统的含铅焊点和高银无铅焊点进行比较分析。 3.利用电子显微镜等手段,观察低银无铅焊点的微观结构,在电迁移实验前后比较其微观结构的变化情况,分析其电迁移机理。 4.对实验结果进行数据处理和分析,并提出相应的结论和建议,为工程应用提供参考依据。 技术路线 1.低银无铅焊点的制备 在铝基和铜基电路板上制备5mm×5mm大小的低银无铅焊点,采用熔融焊接法,选用适当的材料和工艺参数进行制备。通过电子显微镜观察低银无铅焊点的微观结构,确定样品制备的质量。 2.电迁移实验 利用电迁移实验系统对制备出的低银无铅焊点样品进行电流-电压特性测试和电迁移实验,并与传统的含铅焊点和高银无铅焊点进行比较分析。在实验过程中,记录实验数据,并对实验结果进行分析和处理。 3.微观结构观察 利用电子显微镜和扫描电子显微镜观察低银无铅焊点的微观结构,在实验前后比较其微观结构的变化情况,分析其电迁移机理。 4.数据处理和分析 对实验结果进行数据处理和分析,包括电流密度与电压之间的关系曲线、电迁移速率等数据的统计和分析,分析不同焊点材料电迁移性能的差异,并提出相应的结论和建议。 5.总结和展望 总结实验结果,探讨低银无铅焊点的电迁移机理和影响因素,为工程应用提供参考依据。展望未来,继续优化低银无铅焊点的制备工艺,提高其电迁移性能,推动无铅焊接技术的发展。 进度计划 本次研究预计历时6个月,进度计划如下: 第1-2个月:调研和文献查阅,制定实验方案; 第3-4个月:制备低银无铅焊点样品,进行电流-电压特性测试和电迁移实验; 第5-6个月:观察低银无铅焊点的微观结构,对实验结果进行数据处理和分析,并撰写研究报告。 参考文献 [1]E.J.Cotts,“Reliabilityofelectronicassemblieswithlead-freesoldering,”IEEETrans.Compon.,Packag.Manuf.Technol.,vol.28,no.3,pp.438-445,Sep.2005. [2]J.T.Wu,Y.H.Huang,andL.C.Chiu,“Impactofsoldermicrostructureonelectromigrationreliabilityofflip-chipinterconnects,”IEEETrans.Adv.Packag.,vol.24,no.1,pp.67-73,Feb.2001. [3]Y.W.ZhangandY.H.Huang,“Electromigrationreliabilityoflead-freeflip-chipsolderjoints,”J.Electron.Mater.,vol.34,no.3,pp.306-313,Mar.2005. [4]S.Li,P.Wu,andY.Cui,“AstudyonelectromigrationfailureofSn-3.5Aglead-freesolderjointsunderhighcurrentdensity,”Microelectron.Reliab.,vol.53,no.1,pp.171-176,Jan.2013.