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降低NoC测试功耗的方法研究的综述报告
网络互连（NoC）已经成为芯片系统中成为一种重要的通信结构，它具有高性能，良好的可扩展性和可靠性等优势。然而，现有的NoC测试方案面临着许多挑战，即测试时间过长，测试功耗过高和测试覆盖率不足等。为了解决这些挑战，许多研究人员提出了多种方法来降低NoC测试功耗。本文将从两个角度出发，即技术和方法，综述当前研究的相关工作。
技术方面，可以采用以下方法来降低NoC测试功耗：
首先，采用多种故障模型。目前，NoC测试常用的故障模型有单点故障和键合线故障。但是，这种故障模型无法检测到某些更为复杂的故障，如多点故障和短路。因此，一些研究人员提出了基于所谓的“高级故障模型”的测试方法。例如，采用节点短路和交叉口多点故障模型可以提高测试效率，降低测试功耗。
其次，采用低功耗测试模式。低功耗测试模式是指在测试期间降低NoC系统的功耗。一个比较简单的方法是采用节能模式。例如，当一个节点没有任何数据需要传输时，该节点可以进入闲置状态。这样可以降低功耗，同时避免了一些潜在的故障。
再者，采用高效的测试算法。为了进一步优化测试效率并降低功耗，需要采用一些高效的测试算法。传统的算法中，全局采用随机扫描链（ScanChain）方法进行故障检测。但是，这种方法需要大量的测试数据，会降低测试效率，增加测试成本和功耗。因此，研究人员提出了一些新的、高效的测试算法，例如分层测试方法、多进程测试方法和动态扫描链算法等，这些算法能够大大提高测试效率，降低NoC测试功耗。
方法方面，可以采用以下方法来降低NoC测试功耗：
首先，采用拟概率测试方法。拟概率测试方法是一种将多个故障模型组合在一起进行测试的方法。通过将多个故障模型组合在一起，可以大大提高测试效率。例如，在使用短路模型和多点故障模型组合在一起测试时，可以通过检测任何一个故障来判断一个节点是否存在故障，从而提高测试效率。这种方法可以对测试时间和功耗进行控制，但可能会牺牲一些测试覆盖率。
其次，采用误差自适应方法。误差自适应方法是一种在测试时自适应地选取误差等级的方法。通过根据当前测试进程中的错误数量选择适当的误差等级，就可以有效地减少测试时间和功耗。这种方法可以在一定程度上提高测试速度和效率。
综上所述，降低NoC测试功耗是一个重要且具有挑战性的问题。当前，已经有许多研究人员提出了各种各样的方法和技术来解决这个问题。这些方法包括使用多种故障模型、采用低功耗测试模式、高效的测试算法、拟概率测试等。通过采用这些方法，可以有效地控制测试时间和功耗，同时提高测试效率和覆盖率，这将有助于提高系统芯片的性能和可靠性。