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NAND型FLASH测试算法的设计与基于FPGA的实现的中期报告
一、项目背景
NAND型Flash是一种存储介质，在嵌入式设备以及智能手机、平板电脑等消费电子产品中广泛应用。测试是每个NAND型Flash的必要环节，而测试算法的设计是NAND型Flash测试中的一个关键问题。在本项目中，我们将设计一种NAND型Flash测试算法，并通过FPGA实现。
二、项目计划
项目计划分为以下几个阶段：
1.确定测试算法的设计思路（已完成）
在这个阶段，我们将学习现有的NAND型Flash测试算法，并尝试提出自己的设计思路。
2.编写测试算法的程序（进行中）
在这个阶段，我们将使用VerilogHDL编写测试算法的程序，以便在FPGA上实现。
3.将测试算法实现在FPGA上（待完成）
在这个阶段，我们将将测试算法实现在FPGA上，并进行测试和验证。
4.撰写最终报告（待完成）
在这个阶段，我们将对整个项目进行总结和评估，并撰写最终报告。
三、已完成内容
目前，我们已完成了测试算法的设计思路，包括以下几个步骤：
1.读取Flash中的数据
首先，我们需要读取Flash中存储的数据。为了读取数据，我们将使用FPGA控制器，并将读取的数据存储在FPGA内部的存储器中。
2.编写测试算法
其次，我们需要编写测试算法。这个算法将会对Flash中的数据进行检测和验证，并输出测试结果。
3.输出测试结果
最后，我们需要将测试结果输出到FPGA控制器，以便进行后续处理。
四、进行中的工作
目前，我们正在进行测试算法的程序编写。我们已经完成了算法的主体部分，并正在测试和验证程序的正确性。
我们计划在接下来的两周内完成测试算法的程序编写，以便进行后续的FPGA实现。