亚微米数字集成电路测试与验证方法研究及实现的中期报告.docx

亚微米数字集成电路测试与验证方法研究及实现的中期报告
本项目的研究目的是针对亚微米数字集成电路的测试与验证问题，开展方法研究和实现。在之前的研究中，我们进行了相关技术的调研和分析，包括数字电路测试方法、仿真平台构建、模型验证等方面。
在中期报告中，我们主要开展了以下工作：
一、针对数字电路测试，我们提出了基于自适应分区的测试方法。该方法能够有效地提高测试覆盖率，并同时降低测试成本和时间。我们选择了常见的ISCAS’85测试集作为实验数据集，对提出的方法进行了实验验证。
实验结果表明，与传统的扫描测试方法相比，采用自适应分区方法能够平均提高测试覆盖率约15%左右，同时测试时间大大缩短，测试成本也有所降低。
二、针对仿真平台构建，我们选择了Verilog语言和ModelSim软件作为实验工具。首先，我们构建了一些简单的数字电路模型，并通过ModelSim进行仿真验证。然后，我们在仿真平台中添加了一些常用的仿真测试模块，如计数器、时钟、拉升电平等，以帮助进行有效的测试与验证。
三、针对模型验证，我们选择了常见的模型检查工具NuSMV进行实验。与传统的针对抽象模型的验证方法不同，我们将NuSMV用于对电路的逻辑模型进行验证。我们设计了一个简单的数据分配器电路模型，并通过NuSMV对该模型进行了形式化验证。
实验结果表明，NuSMV可以快速、准确地检测出模型中存在的错误和矛盾，从而提高模型的验证可靠性。
综上，本项目在数字电路测试方法、仿真平台构建、模型验证等方面均取得了一定的进展，为后续研究和实现打下了良好的基础。