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基于嵌入式DLL的BIST设计的综述报告
嵌入式DLL是一种特殊的动态链接库，被嵌入在某个应用程序中，用于提供一些特定的功能、服务和接口。这种技术在嵌入式系统中得到广泛的应用，可以极大地减少开发成本和系统资源占用。其中之一的应用就是基于嵌入式DLL的BIST设计。
BIST是板级测试技术（Board-LevelIntegratedSelf-Test），用于测试电路板级部分。传统的BIST测试有两种方式，一种是使用专用硬件进行测试，另一种是在通用处理器上运行特定的软件。但是这些方法都有一些限制和缺陷，例如专用硬件成本高昂，不易维护；通用处理器测试速度慢，且不够精确。
嵌入式DLL基于嵌入式系统的需求，将测试代码编译为动态链接库，并嵌入在相应的应用程序中。然后，在系统启动时，这些动态链接库被加载并初始化，以供BIST测试使用。这种方法可以在不增加硬件成本和系统复杂性的情况下，提供可靠的测试保障。
嵌入式DLL的BIST设计可以分为以下几个步骤：
1.需求分析：根据系统测试需求，确定测试项目、测试方法和测试覆盖率等参数，以及测试代码的编写规范和代码风格。
2.编写测试代码：编写符合要求的测试代码，按照测试需求划分成多个函数，每个函数实现一个特定的测试功能，并设计好相应的测试规则和测试数据。
3.编译：将测试代码编译成动态链接库（DLL）文件，包括头文件、源文件和可执行文件等。
4.嵌入：将编译好的动态链接库嵌入到目标应用程序中，以供BIST测试使用。
5.测试执行：在系统启动时，自动或手动执行BIST测试代码，检测系统的各项功能是否正常运行。
6.测试结果分析：根据测试结果，判断系统各项功能的可靠性和稳定性，并对测试代码进行优化和修改，以提高测试效率和测试覆盖率。
总的来说，嵌入式DLL的BIST设计可以提高测试速度和测试效率，降低测试成本和测试风险，为嵌入式系统提供可靠性保障和质量保证。