MSA_测量系统剖析演示文稿.ppt

测量系统分析的目的数据的质量描述测量数据质量的统计特性低质量数据的原因和影响有关测量数据的常见问题有关测量数据的常见问题有关测量数据的常见问题过程变差剖析测量系统的规划（一）测量系统规划（二）测量系统开发检查清单的建议要素第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题第2类要素：与测量系统制造有关的问题（设备、标准、仪器）第2类要素：与测量系统制造有关的问题（设备、标准、仪器）第2类要素：与测量系统制造有关的问题（设备、标准、仪器）第2类要素：与测量系统制造有关的问题（设备、标准、仪器）第3类要素：与测量系统实施有关的问题（过程）第3类要素：与测量系统实施有关的问题（过程）连续变量测量系统分析测量仪器分辨率（测量仪器的分辨率必须小于或等于规范或过程误差的10%）测量系统的有效分辨率（,,,,,discrimination）分辨率不足的表现敏感度（Sensitivity）准确度(Accuracy)准确度的问题可以通过校准来探测.
偏倚也可以与过程的容差相比较

判断准确度的简单标准为.
小于过程变差或容差的,,,,,1%,,,,,,可认为是精确的.
小于过程变差或容差的,,,,,1%,,,,,则需要研究和调整测量系统,,,,,,或者临时用补偿值来修正以后的测量值
偏倚的研究还可以通过作图的方式来进行,,,,,,即作出直方图,,,,,,然后根据经验判断是否可以接受.
偏倚的研究还可以通过计算置信区间来判断是否可以接受作图分析偏倚研究的分析偏倚的调整线性,,,,,线性的探测可以在校准时进行
,,,,,线性的好坏可以通过作图来显示
,,,,,线性的研究也可以通过数据分析来进行,,,,,,即用最小二乘法来计算最佳的拟合直线,,,,,,再用假设检验来验证其线性是否可以接受.线性误差的原因在一段时间内，测量结果的分布无论是均值还是标准偏差都保持不变和可预测的
通过较长时间内，用被监视的量具对相同的标准或,,,,,标准件的同一特性进行测量的总变异来监视
可用时间走势图进行分析稳定性的判定造成不稳定的可能因素（一）造成不稳定的可能因素（二）校准精确性（重复性和再现性）测量系统内在的变异性
基于重复测量的数据，用分组后组内的标准偏差来估算,,,,,

小于测量系统的总变差造成重复性的可能原因造成重复性的可能原因（续）精确度：再现性造成再现性误差的潜在原因造成再现性误差的潜在原因（续）造成再现性误差的潜在原因（续）测量系统分析的准备工作测量系统分析的两个阶段测量系统分析的两个阶段（续）连续变理测量系统分析平均范围,,,,,=,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,=,,,,,(2+1+1+2+1)/5,,,,,=,,,,,7/5,,,,,=,,,,,1.4

量具误差,,,,,=,,,,,5.15,,,,,*,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,/d,,,,,=5.15,,,,,/,,,,,1.19,,,,,*,,,,,,,,,,,,,,,=,,,,,4.33,,,,,*,,,,,,,,,,,,,,,=,,,,,4.33,,,,,*,,,,,1.4,,,,,=,,,,,6.1

%,,,,,Gage,,,,,R&R,,,,,=,,,,,量具误差Gage,,,,,Error,,,,,/,,,,,允差Tolerance,,,,,=,,,,,6.1,,,,,/,,,,,20,,,,,*,,,,,100,,,,,%,,,,,=,,,,,30.5%短期模式练习计量型数据的,,,,,均值-极差法计算A测的所有样品
的总平均值XA。
测量系统分析EV=,,,,,Equipment,,,,,Variation,,,,,(Repeatability)
AV=,,,,,Appraiser,,,,,Variation,,,,,(Reproducibility)
R&R=,,,,,Repeatability,,,,,&,,,,,Reproducibility
PV=,,,,,Part,,,,,Variation
TV=,,,,,Total,,,,,Variation,,,,,of,,,,,R&R,,,,,and,,,,,PV
K1-Trial,,,,,,K2-Operator,,,,,,&,,,,,K3-Part,,,,,Constants卡尺的R&R研究
,,,,,,,,,,Excel,,,,,运算如果重复性大于再现性，原因可能是：如果再现性大于重复性，原