基于光谱特性分析的冬油菜苗期田间杂草识别.pdf
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基于光谱特性分析的冬油菜苗期田间杂草识别.pdf
第29卷第20期农业工程学报Vol.29No.201282013年10月TransactionsoftheChineseSocietyofAgriculturalEngineeringOct.2013基于光谱特性分析的冬油菜苗期田间杂草识别白敬1,徐友2,魏新华1※,张进敏1,沈宝国3(1.江苏大学现代农业装备与技术教育部重点实验室,镇江212013;2.南京农业大学工学院,南京210031;3.江苏省联合职业技术学院镇江分院,镇江212016)摘要:杂草识别是自动除草的关键环节,运用光谱分析技术可以快速
基于光谱分析的冬油菜苗期田间杂草识别研究的任务书.docx
基于光谱分析的冬油菜苗期田间杂草识别研究的任务书一、研究背景冬油菜是我国冬季主要种植的油料作物,在其苗期,常常会受到田间杂草的威胁,导致冬油菜的正常生长发育遭受破坏,降低生产效益。传统的冬油菜苗期田间杂草控制方法主要采用锄草、施肥和喷洒除草剂等方式,但这些方法存在着效果不好、成本高等问题。因此,如何有效地识别和控制冬油菜苗期的田间杂草成为了当前的研究热点。随着光谱学的发展,越来越多的研究指出利用遥感技术和光谱分析技术可以有效地对植物和土地等进行监测和识别。利用光谱分析技术可以获取植物的反射光谱数据,并对数
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基于纹理特征的玉米苗期田间杂草识别基于纹理特征的玉米苗期田间杂草识别摘要:随着农业技术的发展,农作物的生产受到了杂草的严重威胁。针对玉米苗期的田间杂草识别问题,本论文提出了一种基于纹理特征的识别方法。首先,利用数字图像处理技术对玉米苗期的田间杂草图像进行预处理。然后,提取图像的纹理特征,并使用机器学习算法对不同种类的杂草进行分类。最后,通过实验验证了本方法的有效性和准确性。关键词:纹理特征,玉米苗期,田间杂草,识别,机器学习1.引言杂草是农业生产的主要障碍之一。它们会竞争养分和水分,减少农作物的产量。因此
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基于SVM的地面成像光谱数据田间杂草识别研究摘要:本研究基于支持向量机(SVM)算法对地面成像光谱数据进行了田间杂草识别。首先,采集不同类型的杂草和农作物的地面成像光谱数据,并进行数据预处理。然后,根据SVM算法的原理,选择适当的核函数和参数进行模型训练,最后对测试集数据进行分类。实验结果表明,本研究基于SVM算法的杂草识别模型在识别田间杂草方面具有较好的准确性和鲁棒性,具有一定的应用价值。关键词:SVM,地面成像光谱,田间杂草,识别,模型引言:杂草是影响农作物生长和产量的重要因素之一。在农业生产中,必须
基于多光谱图像和SVM的玉米田间杂草识别.docx
基于多光谱图像和SVM的玉米田间杂草识别摘要农业是我国的重要产业之一,杂草严重影响着作物的生长和产量。因此,杂草的识别和防治对农业生产至关重要。本文基于多光谱图像和支持向量机(SVM)算法,研究了玉米田间的杂草识别。首先,通过无人机获取区域内的多光谱图像,并对图像进行处理和特征提取。随后,利用训练集和SVM分类器,对玉米田间的杂草进行分类识别。实验结果表明,本文所提出的方法能够有效地进行杂草识别,并能够实现高精度的分类识别。关键词:杂草识别;多光谱图像;支持向量机;特征提取;分类识别引言在农业生产中,杂草