预览加载中,请您耐心等待几秒...
1/10
2/10
3/10
4/10
5/10
6/10
7/10
8/10
9/10
10/10

亲,该文档总共25页,到这已经超出免费预览范围,如果喜欢就直接下载吧~

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

1荧光及荧光分光光度计的发展 荧光寿命的基本原理 荧光寿命测定的现代方法及数据处理 测定荧光寿命的一些应用 测定荧光寿命的仪器Theemissionoflightfromanysubstanceiscalledluminescence.Someofthefirstscientificreportsofluminescenceappearedinthemiddleofthe18thcentury. In1845,Herschelobservedthatanotherwisecolourlesssolutionofquinine(quinineabsorbsintheUVregion)inwateremittedabluecolourundercertaincircumstances. In1852SirG.G.Stokesstudiedthesamecompoundandfoundthattheemittedlighthasalongerwavelengththanthelightabsorbed,theso-calledStokes’shift.(firstdescribedfluorescence) Inthe1920sand1930sJabłońskiinvestigatedpolarizedlightandfluorescenceandwasabletoshowthatthetransitionmomentsinabsorptionandemissionaretwodifferentthings. Thefirstfluorescencemicroscopesweredevelopedbetween1911and1913byGermanphysicistsOttoHeimsttandHeinrichLehmannasaspin-offfromtheultravioletinstrument. Itwasn'tuntiltheearly1940sthatAlbertCoonsdevelopedatechniqueforlabelingantibodieswithfluorescentdyes,thusgivingbirthtothefieldofimmunofluorescence. Bytheturnofthetwenty-firstcentury,thefieldoffluorescencemicroscopywasresponsibleforarevolutionincellbiology,couplingthepoweroflivecellimagingtohighlyspecificmultiplelabelingofindividualorganellesandmacromolecularcomplexeswithsyntheticandgeneticallyencodedfluorescentprobes.荧光是分子吸收能量后其基态电子S0被激发到单线激发态S1或S2后由第一单线激发态S1回到基态S0时所发生的。 荧光寿命是指分子在单线激发态S1所平均停留的时间,或者说处于激发态S1的分子数目衰减到原来的1/e所经历的时间。 由于荧光现象多发生在纳秒级,这正好是分子运动所发生的时间尺度,因此利用荧光技术可以“看”到许多复杂的分子间作用过程,例如超分子体系中分子间的簇集、固液界面上吸附态高分子的构象重排、蛋白质高级结构的变化等。 荧光寿命测定的现代方法时间相关单光子记数法(Time-CorrelatedSingle-Photon Counting,TCSPC)以光子数对时间作图可得到如图所示的直方图,此图经过平滑处理得到荧光衰减曲线。 时间相关单光子记数法(Time-CorrelatedSingle-Photon Counting,TCSPC)TCSPC法的突出优点在于灵敏度高、测定结果准确、系统误差小,是目前最流行的荧光寿命测定方法。但是这种方法所用仪器结构复杂、价格昂贵、而且测定速度慢,无法满足某些特殊体系荧 光寿命测定的要求。 频闪技术(StrobeTechniques) 频闪技术(StrobeTechniques)的优缺点: 新一代频闪分时光谱仪有着TCSPC的准确性,比相调制测定速度更快,操作也很方便,仪器价格也大大降低。不过脉冲法得到的荧光衰减曲线包含噪音的水平尚无法知道,在数据分析时应当有所估计。 荧光寿命测定中的数据处理 3、卷积积分 实际测定得到的荧光衰减曲线N(tk)是仪器响应函数L(tk)和真实荧光衰减函数I(t)的卷积。即N(tk)=L(tk)ΘI(t) 第三条曲线是实测荧光强度衰减曲线的拟合函数Nc(tk)。 4、数据分析 数据分析的目的在于,通过拟合实验所得荧光衰减曲线,建立