晶体光学基础1.ppt

几个重要的基本概念（1）几个重要的基本概念（2）思考题小结思考题有关二轴晶光率体的几个概念（1）有关二轴晶光率体的的几个概念（2）小结晶体光学基础小结1.作出二轴晶光率体的主切面。
2.何谓矿物的光性方位？矿物的光性方位有何实际意义？
3.设普通角闪石Ng=1.701，Nm=1.691，Np=1.665，Nm=Y,Ng∧Z=30°,β=106°。确定普通角闪石的光性符号，作出各主轴面上的光性方位图。
光率体和光性方位的意义2反射偏光显微分析透射光下：薄片；
光线垂直矿片下表面入射并透出矿片；
主要用作矿物的光性鉴定，也可进行显微观察。
理论：《晶体光学》
反射光下：光片；
光线垂直矿片上表面入射并垂直反射；
材料光学显微分析的主要方式。
理论：《不透明矿物的晶体光学》
2.1反光显微镜下矿物的部分光性（2）反射色与反射多色性
反射色：由矿物对各种色光的选择性反射而使矿片表面呈现出
的颜色称为反射色，也称为表色。
如：黄铁矿呈浅黄色，磁铁矿则呈淡黄红色。
反射率多色性：非均质体矿物的反射色色调和浓度（深浅）
随测定方向的不同而变化的性质称为反射多色性。
（无色的矿物可发生灰度的变化，但严格地说其不属于反射多色性）
（3）内反射
入射光照射到矿片上，部分光线可能进入矿物内部，并从其到达的不同介质的分界面处（解理、裂隙、空洞、包裹体等等）被反射回来，此现象称为内反射。
经内反射的光可能是白光，也可能带有颜色称为内反射色，也称为体色。
（4）非均质效应
由于物镜或多或少的聚敛作用使均质体在正交反射偏光下呈现暗淡亮光且旋转不变的现象。（5）偏光色效应
非均质体矿物使反射偏光发生变化，旋转物台，透出上偏光镜的光线亮度发生规律的明暗变化，有些矿物还有颜色的变化（此称为偏光色）的现象称为偏光色效应。
非均质体矿物不一定都有偏光色，但有偏光色的矿物一定是非均质体。
（6）反射贝克线
由不同硬度的矿相边界面上的倾斜反射光形成的亮线称为反射贝克线。提升镜筒，亮线移向软矿物。
利用反射贝克线很易区别碱性耐材中较硬的M2S和较软的CMS、较硬的铁酸镁型固溶体和较软的铁酸二钙；区别较硬的刚玉和较软的莫来石。2.2材料显微组成与结构的定性观察2.3材料岩相组成的定量分析2.4反光显微镜下的蚀象技术光学显微分析小结（1）单偏光下：
（2）正交偏光下：
（3）锥光下：2.材料的显微组成和结构分析（岩相分析，微米尺度）：
多在反光下进行（光片易于磨制及材料原结构易于保持）。
内容主要为：矿物和孔隙的形态、大小、数量（半定量）及分布。

试述光学显微分析的基本原理和功能，并举例说明
其在无机非金属材料生产与研究中的应用。

1.2.2岩矿制片基本步骤1.3.1单偏光下晶体的主要光学性质(2)薄片中矿物的颜色和多色性(3)薄片中矿物的边缘、贝壳线、糙面和突起矿物的突起等级闪突起：旋转物台时，矿物的突起发生明显变化的现象1.3.2正交偏光镜下晶体的主要光性1.3.2.2矿片在正交偏光镜下的光学现象（2）干涉现象K1干涉结果干涉色的形成例：石英∥OA切片厚0.04mm，求此切片在正交偏光镜下的“颜色”。干涉色的定义及影响干涉色的因素干涉色级序思考题均质体矿片
非均质体⊥OA矿片例:已知石英∥OA切片厚0.03mm，石膏∥AP切片厚0.06mm，求当此两切片上光率体切面半径于45o位重叠时，矿片上所呈现的干涉色。正交偏光镜间的消色现象常用试板的名称、光程差及作用思考题1.3.2.4正交偏光镜间矿物主要光性的观测在正交偏光镜下应用补色法则测轴名正交偏光镜下应用补色法则测矿物的延性正交偏光镜下双晶的观察1.3.3锥光镜下晶体的主要光性聚光镜的作用与锥光镜的光学特点锥光镜装置中勃氏镜的作用示意聚敛偏光束射入矿片时，除中间一条光线垂直矿片表面入射外，其余均倾斜射入矿片，所以，各条光线在矿片上的出露点处所对应的光率体切面形状和方位是不完全相同的，因此矿片上各点的光性也将不完全相同。1.3.3.2一轴晶矿物干涉图成因（1）：消光影的形成——光率体椭圆切面半径方位分布成因（2）干涉色色圈的形成——双折率和实际光程的变化解决三个问题：
轴性——根据干涉图形的特点判断；
切片方向——干涉图形的特点判断；
光性——应用补色法则进行测定。一轴晶⊥OA切面上光性的测定1、3象限干涉色升高
2、4象限干涉色降低1、3象限干涉色降低
2、4象限干涉色升高一轴晶斜交OA切面干涉图（1）斜交角度较大：
仅见一条黑臂均分视域，旋转物台时纵、横臂交替进出视域。一轴晶斜交OA切面干涉图（3）一轴晶斜交OA切面干涉图（单臂）的应用顺时针旋转物台：
横上进、下出；接纵右进、左出：右上角，横分2、3象限
横下进、上出；接纵左进、右出：左下角，横分1、4象限1象限干涉色升高，表明同名轴平行，即：Ne＞No
故