一种二维高精度检测平台.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106683712A(43)申请公布日2017.05.17(21)申请号201610629689.3(22)申请日2016.08.04(71)申请人中科院南京天文仪器有限公司地址210042江苏省南京市玄武区花园路6-10号(72)发明人胡企千李冬冬赵金标郑锋华(74)专利代理机构南京知识律师事务所32207代理人王珒(51)Int.Cl.G12B9/10(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图4页(54)发明名称一种二维高精度检测平台(57)摘要本发明属于精密仪器设备领域，具体是一种二维高精度检测平台，包括底座、轨道、轨道调整机构、滚轮机构和平台，轨道调整机构布置不少于3组、沿轨道的长度方向等间距布置固设在底座上，轨道放置在轨道调整机构上，所述的平台通过滚轮机构放置在轨道上。本发明的二维高精度检测平台，创新在于为检测平台建立高精度的水平基准平面。本发明通过对多组轨道调整机构逐一调整高度，将轨道整体调整至水平，并与滚动机构相配合，从而使检测平台能够保持在其所在的平面上并实现运动，为二维高精度检测提供可靠的基准平面。CN106683712ACN106683712A权利要求书1/1页1.一种二维高精度检测平台，其特征在于：包括底座、轨道、轨道调整机构、滚轮机构和平台，轨道调整机构布置不少于3组、沿轨道的长度方向等间距布置固设在底座上，轨道放置在轨道调整机构上，所述的平台通过滚轮机构放置在轨道上。2.根据权利要求1所述的二维高精度检测平台，其特征在于：所述的轨道为环形，平台为圆盘形，轨道与平台同心布置，滚轮机构沿平台的圆周方向布置放置在环形的轨道上，底座正对环形轨道圆心位置设置有转轴，平台与转轴可转动连接。3.根据权利要求1或2中所述的二维高精度检测平台，其特征在于：还包括桥式水平仪，桥式水平仪布置在轨道上且位于每两个相邻的轨道调整机构之间。4.根据权利要求1或2中所述的二维高精度检测平台，其特征在于：所述的轨道调整机构包括精密调整斜块和调节螺杆，精密调整斜块放置在底座上，轨道放置在精密调整斜块上，轨道或底座设置有与精密调整斜块相互配合的斜面，调节螺杆能够驱动精密调整斜块沿水平方向位移。5.根据权利要求2所述的二维高精度检测平台，其特征在于：所述的滚轮机构包括滚轮，所述的滚轮具体为圆锥滚轮。6.根据权利要求5所述的二维高精度检测平台，其特征在于：滚轮机构上还设置有驱动电机，所述的驱动电机驱动滚轮转动。7.根据权利要求2所述的二维高精度检测平台，其特征在于：还包括方位微调机构，所述的方位微调机构由摇臂、定位滚轮、定位滚轮锁止装置、精密丝杆、丝杆螺母、丝杆驱动电机、固定座组成；丝杆驱动电机通过固定座安装在平台上，摇臂一端可转动安装在转轴上、另一端安装丝杆螺母，精密丝杆安装在丝杆驱动电机上与丝杆螺母配合连接，所述的定位滚轮可转动安装在摇臂上，定位滚轮锁止装置可锁止定位滚轮。8.根据权利要求2所述的二维高精度检测平台，其特征在于：轨道调整机构沿轨道圆周方向布置不少于8组。2CN106683712A说明书1/4页一种二维高精度检测平台技术领域[0001]本发明属于精密仪器设备领域，具体是一种用于进行二维高精度检测的检测平台。背景技术[0002]二维高精度检测平台主要用于精密仪器的二维精度检测、与二维位置相关的机械、电学、声学等性能的检测和标定，检测平台自身的位置精度至关重要。[0003]目前，用于检测平台方位轴的转动和定位主要是采用齿轮传动配合大直径轴承进行支撑及转动。但轴承自身会存在间隙，导致方位轴晃动，而且齿轮和轴承的精度决定了方位轴的精度，这就需要很高精度的轴承，其成本高，加工难度大。发明内容[0004]本发明针对现有技术的上述不足，提出了一种二维高精度检测平台，其体积轻便，便于安装调整，并且能够实现方位轴在360°范围内任意圈转动，定位及精度可调。[0005]本专利的二维高精度检测平台，包括底座、轨道、轨道调整机构、滚轮机构和平台，轨道调整机构布置不少于3组、沿轨道的长度方向等间距布置固设在底座上，轨道放置在轨道调整机构上，所述的平台通过滚轮机构放置在轨道上。[0006]上述的二维高精度检测平台，所述的轨道为环形，平台为圆盘形，轨道与平台同心布置，滚轮机构沿平台的圆周方向布置放置在环形的轨道上，底座正对环形轨道圆心位置设置有转轴，平台与转轴可转动连接。轨道调整机构沿轨道圆周方向布置不少于8组。[0007]上述的二维高精度检测平台，还包括桥式水平仪，桥式水平仪布置在轨道上且位于每两个相邻的轨道调整机构之间。[0008]上述的二维高精度检测平台，所述的轨道调整机构包括精密调整斜块和调节螺杆，精密调整斜块放置在底座上，轨道放置在精密调整斜块上，轨道或底座设置