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基于DSP的ATEM信号数据采集系统研究与设计的开题报告
一、选题背景和意义
ATEM（AutomatedTestEquipmentforModules）是用于半导体芯片测试与验证的关键设备，可实现对芯片参数检测、电功能测试、封装质量检测等功能。ATEM的出现大大缩短了芯片研发周期和测试成本，提高了研发效率和产品质量。
ATEM信号数据采集系统是ATEM测试中的重要模块，负责采集被测芯片的输出信号，对信号进行分析和判断，最终产生测试结果。基于数字信号处理（DSP）的ATEM信号数据采集系统可以实现高速、高精度的信号采集和分析，可用于高性能、高要求的芯片测试与验证场合，具有很大的应用前景。
本选题旨在研究基于DSP的ATEM信号数据采集系统的设计与实现，为半导体芯片测试与验证领域的技术进步做出贡献。
二、研究内容和研究方法
（一）研究内容
1.ATEM信号的特性与分析：对ATEM信号的特征与分析进行研究，包括采样率、信噪比、频率响应等参数的探讨，为数据采集与处理提供基础支撑。
2.DSP数字信号技术研究：对数字信号处理技术进行深入学习与研究，包括数字滤波器设计、FFT算法、数字信号重构等方面的技术，为信号处理系统的设计和实现提供技术支持。
3.ATEM信号数据采集系统设计：在掌握ATEM信号特点、DSP数字信号技术的基础上，设计出符合高速、高精度要求的ATEM信号数据采集系统，包括硬件电路设计和系统软件实现等方面。
4.系统测试与评价：在完成系统设计和实现后，对系统进行性能测试和评价，测试数据并对系统的性能及实际应用效果进行分析和评估。
（二）研究方法
1.文献综述法：搜集半导体芯片测试与验证领域相关的文献资料，对相关技术和研究进展进行梳理和分析，为问题解决提供前期支撑。
2.数字信号处理技术学习法：在阅读相关文献的基础上，通过本科课程学习和网络资源学习，系统深入学习DSP数字信号处理技术，为ATEM信号数据采集系统设计和实现提供技术支持。
3.硬件设计和软件编程法：在学习相关技术和清晰了解ATEM信号数据采集系统的功能需求后，进行系统硬件电路设计和软件编程实现，不断优化系统设计，使其满足高性能、高要求的芯片测试和验证。
4.系统测试与评价法：在完成系统设计和实现后，对系统进行性能测试和评价，测试数据并对系统的性能及实际应用效果进行分析和评估。
三、拟达到的预期目标
1.对ATEM信号的特征进行分析和学习，了解数字信号处理技术相关基本概念和方法。
2.设计并完成基于DSP的ATEM信号数据采集系统，使其具备高速、高精度、稳定可靠的特点。
3.对系统进行充分测试和评价，优化系统设计和参数调整，使其达到较好的测试效果和应用效果。
四、进度安排
1.第一阶段（2021年7月-8月）：研究ATEM信号的特征与分析，学习数字信号处理技术相关基本概念和方法。
2.第二阶段（2021年9月-10月）：设计系统硬件电路和软件编程实现，完成一部分系统功能实现。
3.第三阶段（2021年11月-2022年1月）：完成系统设计和实现，对系统进行性能测试和评价，分析和评估系统的性能及实际应用效果。
4.第四阶段（2022年2月-2022年4月）：完成毕业设计论文的撰写和提交。