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GaN基HEMT器件按比例缩小规律的研究的中期报告
尊敬的评委和各位专家：
我是XXX，报告的题目是《GaN基HEMT器件按比例缩小规律的研究的中期报告》。
本研究旨在探究GaN基HEMT器件按比例缩小的规律，为实现高功率、高频率、高可靠性的GaN基HEMT器件提供理论支持。
在已有研究的基础上，我们进行了一系列实验，探究不同尺寸的器件在高频工作条件下的性能差异，具体步骤如下：
首先，我们通过刻蚀工艺制备了不同尺寸的GaN基HEMT器件。然后，我们使用高功率的微波信号源对器件进行了参数测试，包括S参数、功率输出、电气特性等。最后，我们对实验数据进行统计分析，确定了GaN基HEMT器件按比例缩小的规律。
目前，我们已经完成了实验和数据分析的初步阶段，得到的初步结果如下：
1.随着器件尺寸的缩小，其高频性能逐渐提升，如S参数的增益和带宽均显示出明显的增加趋势。
2.同时，随着器件尺寸的缩小，器件的最大输出功率和电气特性也显示出一定程度的提高。
目前，我们的研究处于中期，我们将继续深入实验探究不同尺寸的器件在不同工作状态下的性能差异，并进一步分析实验数据，归纳出更具有可预测性的GaN基HEMT器件按比例缩小规律。
感谢各位专家的聆听！