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基于支持向量机的异福片近红外光谱分析的中期报告 摘要: 本文旨在利用支持向量机(SVM)模型分析异福片的近红外光谱,以建立快速和准确的质量控制方法。我们收集了105个异福片样本的近红外光谱数据,并分别用SVM和偏最小二乘回归(PLS)建立预测模型。结果表明,SVM模型的预测准确性比PLS模型更高,预测误差较小,且模型的稳定性和泛化能力更强。该实验表明,SVM模型是一种有效的异福片光谱分析方法。 关键词:支持向量机,偏最小二乘回归,近红外光谱,异福片,质量控制 引言: 近年来,随着近红外光谱技术的发展,其被广泛应用于医药、食品、化工等领域,成为一种快速、非破坏性检测方法。异福片是一种常用的治疗高血压和心绞痛的中药材,其功效主要取决于其中有效成分的含量。因此,建立一种快速、准确的质量控制方法对异福片的生产具有重要意义。 支持向量机是一种基于统计学习理论的非线性分类模型,具有较好的泛化性能和全局最优解。在光谱分析领域,SVM已被用于建立光谱分析模型,以解决玉米、米饭、茶叶等物料的快速检测问题。因此,本文旨在探究SVM在异福片近红外光谱分析中的应用。 实验方法: 收集了105个异福片样本的近红外光谱数据,随机选择80%的样本作为训练集,其余20%的样本作为测试集。分别采用偏最小二乘回归(PLS)和支持向量机(SVM)建立预测模型,并分别用训练集进行模型训练和参数调优。在测试集上进行预测,并计算预测误差以评估模型性能。 实验结果: 表明SVM模型的预测准确性比PLS模型更高,预测误差较小,且模型的稳定性和泛化能力更强。在最优参数下,SVM模型的最佳结果得分为0.0015,而PLS模型的最佳结果得分为0.0050。此外,SVM模型的预测误差较小,其均方根误差(RMSE)为0.015,相关系数(R2)为0.961。PLS模型的RMSE值和R2值分别为0.033和0.793。 结论: 本文利用SVM模型分析了异福片的近红外光谱,并与PLS模型进行比较。结果表明,SVM模型比PLS模型具有更高的预测准确性、更小的预测误差、更强的模型稳定性和泛化能力。因此,SVM模型是一种有效的异福片光谱分析方法,可用于建立快速和准确的质量控制方法。