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MgO薄膜特性的测试与研究的中期报告
该中期报告主要介绍了对MgO薄膜特性的测试与研究的进展情况。
首先，我们利用激光抛光和溅射技术制备了MgO薄膜样品。通过X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）对样品进行表征，确认样品具有单晶结构且表面平整度良好。接着，通过紫外-可见分光光度计（UV-Vis）测试样品的光学性质，得到了MgO薄膜的透过率和吸收率曲线。同时，进行了椭偏光谱测试来研究样品的光学旋光性质，并分析了旋光率与厚度、波长等因素的关系。
在研究MgO薄膜的电学特性方面，我们使用了霍尔效应测量系统对其进行测试，得到了样品的迁移率和载流子浓度，并结合局域态密度近似（LDA）和第一性原理计算方法对其进行了理论分析。
此外，我们也开展了对MgO薄膜的热学性质研究，采用等差热扫描量热法（DSC）来探究样品的热稳定性和相变温度范围等性质，并利用热导仪（LFA）来测试其热导率和热膨胀系数。
综上，我们在MgO薄膜特性的测试与研究方面进行了全面的实验和理论分析，初步探究了其在光学、电学和热学等方面的特性，为下一步深入研究和应用提供了重要参考。