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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108645355A(43)申请公布日2018.10.12(21)申请号201810373100.7(22)申请日2018.04.24(71)申请人北京航天时代光电科技有限公司地址100094北京市海淀区丰滢东路1号(72)发明人张智华李晶范运强尹其其杨广洁(74)专利代理机构中国航天科技专利中心11009代理人臧春喜(51)Int.Cl.G01B11/26(2006.01)G01N21/88(2006.01)G01N21/95(2006.01)G01N21/952(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图2页(54)发明名称一种光纤环骨架装配质量检测装置及其检测方法(57)摘要本发明公开了一种光纤环骨架装配质量检测装置及其检测方法,检测装置包括转轴、骨架、相机、光源、底座、支架、计算机;底座上穿设转轴并安装用于驱动支架移动的平台,骨架套装在转轴上;相机和光源相对安装在支架内侧,支架外侧与平台固连;转轴、相机、光源和平台均与计算机电气连接。检测方法包括利用计算机调节相机和光源的位置,使相机对准骨架绕线槽的侧壁与底面交接处的边缘轮廓;再利用计算机驱动转轴旋转一圈,同时控制相机连续拍照,并将照片传输至计算机,通过计算机解算出骨架绕线槽的侧壁与底面交接处的夹角变化量。本发明实现了骨架装配质量的非接触精密测量,保证了检测的一致性和全面性,提高了检测效率。CN108645355ACN108645355A权利要求书1/1页1.一种光纤环骨架装配质量检测装置,其特征在于:包括转轴(1)、骨架(2)、相机(3)、光源(4)、底座(5)、支架(6)、计算机(7);底座(5)采用L形块状结构,底座(5)相互垂直的两个平面上分别设有用于穿设转轴(1)的圆孔和用于驱动支架(6)移动的平台,转轴(1)穿过所述圆孔后同轴穿设在骨架(2)中;支架(6)采用凹形框架结构,相机(3)和光源(4)相对安装在支架(6)内侧,并以骨架(2)轴线为对称轴相互对称,支架(6)外侧与所述平台固定连接;转轴(1)、相机(3)、光源(4)和所述平台均与计算机(7)电气连接。2.根据权利要求1所述的一种光纤环骨架装配质量检测装置,其特征在于:所述转轴(1)与骨架(2)之间采用过盈配合。3.根据权利要求1所述的一种光纤环骨架装配质量检测装置,其特征在于:所述相机(3)的拍照位置为骨架(2)绕线槽侧壁与骨架(2)绕线槽底面交接处的边缘轮廓。4.根据权利要求1所述的一种光纤环骨架装配质量检测装置,其特征在于:所述相机(3)的对焦拍摄物面处于转轴(1)轴线所在的水平面内。5.根据权利要求1所述的一种光纤环骨架装配质量检测装置,其特征在于:所述平台包括基座(51)、导轨(52)和滑块(53);基座(51)为空心立方体,导轨(52)为实心直杆,滑块(53)为实心立方体;基座(51)固定连接在底座(5)上,基座(51)侧面设有用于限制导轨(52)水平移动范围的沟槽,滑块(53)上设有用于穿设导轨(52)的通孔,导轨(52)穿过所述通孔后穿设在所述沟槽中。6.根据权利要求1所述的一种光纤环骨架装配质量检测装置,其特征在于:所述计算机(7)用于控制转轴(1)、相机(3)、光源(4)和所述平台的启闭,并收集、处理和显示骨架(2)绕线槽侧壁与骨架(2)绕线槽底面的夹角变化量。7.一种基于所述光纤环骨架装配质量检测装置的检测方法,其特征在于:S1、将转轴(1)穿设在所述圆孔中,再将待测的骨架(2)套装在转轴(1)上,利用计算机(7)驱动所述平台调节相机(3)和光源(4)的位置,使相机(3)对准骨架(2)绕线槽一个侧壁与骨架(2)绕线槽底面交接处的边缘轮廓,并调整相机(3)焦距和光源(4)亮度;S2、利用计算机(7)驱动转轴(1)顺时针旋转360°,同时控制相机(3)连续拍照,并将照片传输至计算机(7),通过计算机(7)解算得到骨架(2)绕线槽一个侧壁与骨架(2)绕线槽底面交接处的夹角变化量;S3、利用计算机(7)驱动所述平台调节相机(3)和光源(4)的位置,使相机(3)对准骨架(2)绕线槽另一个侧壁与骨架(2)绕线槽底面交接处的边缘轮廓,并调整相机(3)焦距和光源(4)亮度,重复S2,即可得到骨架(2)绕线槽另一个侧壁与骨架(2)绕线槽底面交接处的夹角变化量。8.根据权利要求7所述的一种基于所述光纤环骨架装配质量检测装置的检测方法,其特征在于:所述相机(3)在骨架(2)旋转过程中的拍照频次不小于1次/度。9.根据权利要求7所述的一种基于所述光纤环骨架装配质量检测装置的检测方法,其特征在于:所述平台水平移动范围大于待测的骨架(2)绕线槽宽度。10.根据权利要求7所述的一种基于所述光纤环骨架装配质量检测装置的检测方法,其特征