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某电子控制系统自动测试系统开发及SRAM内建测试方法研究的开题报告
尊敬的评委、老师，大家好：
本人即将开展的毕业设计课题是电子控制系统自动测试系统开发及SRAM内建测试方法研究。经过慎重考虑和充分调研，我选择了这个课题，希望在此过程中能够学到更多的知识和技能，做出有意义的成果。
一、研究背景和意义
随着工业自动化和信息化的不断深入和普及，电子控制系统越来越广泛地应用于各个领域。而这些控制系统中，像SRAM这样的存储器件起着非常重要的作用。它们通常需要进行内建测试操作，以确保其可靠性和稳定性。另外，在控制系统的生产过程中，也需要对整个系统进行自动测试，以保证其质量和性能。因此，开发一种电子控制系统自动测试系统，并研究SRAM内建测试方法，具有非常重要的现实意义和应用价值。
二、主要研究内容和研究方法
本设计的主要研究内容包括两部分，一部分是电子控制系统自动测试系统的开发，另一部分是SRAM内建测试方法的研究。
1.电子控制系统自动测试系统的开发
该部分将主要开发一种基于计算机的自动测试系统，用于对电子控制系统的各个部分进行自动化测试。主要包括以下内容：
（1）开发测试软件，并编写各种测试用例，用于测试电子控制系统的硬件和软件模块。
（2）设计测试装置，用于提供各种电信号、控制信号和输入输出信号，以模拟实际应用场景和各种运行环境。
（3）编写测试脚本，用于自动化执行测试用例，并实现对测试结果的记录和统计分析。
2.SRAM内建测试方法的研究
该部分将主要研究SRAM内建测试方法，以了解SRAM的内部结构和测试原理，并探索一种可行的内建测试策略。具体研究方法包括以下内容：
（1）了解SRAM的基本工作原理、内部结构和重要性质，了解常用的SRAM测试方法和流程，并阅读相关的学术论文和研究文献。
（2）研究内建测试方法和策略，探索可行的测试方案，并设计测试程序和测试流程。
（3）实现内建测试程序，并对其进行测试和优化，以实现高效、准确、稳定的SRAM测试。
三、预期成果
经过本人努力和团队合作，本设计预期完成以下成果：
（1）开发一款电子控制系统自动测试系统，并在实际应用中测试和优化，使其能够对控制系统的各个模块进行自动化测试，并实现录制、回放、解析测试结果的功能。
（2）在SRAM内建测试方法的研究中，设计出可行、高效、准确、稳定的测试方案和策略，并实现相关程序和测试流程。
（3）利用开发的自动测试系统和SRAM内建测试程序对一个参考系统进行测试，并得到客观、可靠的测试结果和数据。
四、论文结构及时间计划
本设计论文将分为以下几个章节：第一章是绪论，介绍本研究的目的、背景和意义；第二章是文献综述，介绍国内外相关领域的研究进展和技术路线；第三章是理论基础，介绍控制系统测试、SRAM内建测试的原理和方法；第四章是自动测试系统的设计与实现，介绍电子控制系统自动测试系统的设计与实现过程；第五章是SRAM内建测试方法的研究与实现，介绍SRAM内建测试方法的研究、设计和实现过程；第六章是测试结果与数据分析，介绍测试结果及其分析方法；第七章是结论与展望，对本研究的主要成果和局限性进行总结，并对未来研究方向进行展望。
时间计划如下：
2019年10月至12月：文献综述和理论基础的学习和研究。
2020年1月至3月：开发控制系统自动测试软件，设计测试用例和测试脚本，编写代码实现。
2020年4月至6月：测试系统的设计与实现，设计测试装置，搭建测试环境，进行测试和优化。
2020年7月至9月：SRAM内建测试方法的研究，设计测试方案和程序，进行测试和数据分析。
2020年10月至12月：测试结果和数据的统计分析，论文撰写和论文答辩准备。
以上是本人的开题报告，谢谢您的耐心阅读！