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超长银纳米线及其柔性导体的制备与性能研究的任务书 任务书 一、研究背景 随着纳米科学的不断发展和纳米技术的不断成熟,人们对银纳米线的制备和应用研究越来越关注。在目前的研究中,银纳米线作为柔性导体的应用前景十分广阔,因为银纳米线具有很好的电导率和柔性,在电子器件、太阳能电池、传感器等领域有很大的应用潜力。然而,目前银纳米线的制备方法普遍存在成本高、制备难度大等问题,这给银纳米线的应用带来了很大的限制。因此,本研究旨在通过改进银纳米线的制备方法,制备出具有超长长度和高质量的银纳米线,为柔性导体的应用提供更好的支持。 二、研究任务及要求 1.对现有的银纳米线的制备方法进行综述,分析优缺点,并确定改进的关键点。 2.研究超长银纳米线的制备方法,探究不同参数对银纳米线制备及其品质的影响,并针对不同应用对银纳米线的要求,优化制备参数。 3.通过扫描电子显微镜(SEM)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、透射电子显微镜(TEM)等技术,对制备出的银纳米线的形貌、结构及其它性能指标进行表征。 4.研究银纳米线在柔性基材上的应用性能,包括银纳米线的柔性度、电导率及稳定性等指标。 5.通过实验研究,探究制备出的超长银纳米线在柔性导体、电子器件等领域的应用前景。 6.对研究结果进行分析和总结,撰写研究报告,展示研究成果。 三、研究方法 1.文献调研法:对现有的银纳米线的制备方法进行综述,了解目前研究现状和发展趋势,为本研究提供依据。 2.实验方法:通过改进现有的化学还原法、模板法、水溶胶凝胶法等银纳米线制备方法,制备出超长长度和高质量的银纳米线。 3.表征方法:通过SEM、FESEM、TEM等技术对制备出的银纳米线的形貌、结构、尺寸及其它性能指标进行表征。 4.性能测试法:通过测试银纳米线的柔性度、电导率和稳定性等指标,评估银纳米线在柔性导体、电子器件等领域的应用潜力。 5.分析总结法:对实验结果进行分析总结,撰写研究报告,展示研究成果。 四、预期成果 1.成功制备出具有超长长度和高质量的银纳米线,并对其进行表征和性能测试。 2.系统分析银纳米线制备方法的优缺点,确定制备关键点,提高银纳米线制备的效率和质量。 3.研究银纳米线在柔性导体、电子器件等领域的应用性能,为银纳米线应用提供依据和支持。 4.发表相关学术论文或在相关学术会议上展示研究成果。 五、参考文献 1.FanggangWei,FengbinLiu,JinyuWang,etal.High-performanceandhighlyuniformphase-changememorybyultra-longAg-In-Sb-Tenano-wires.NpgAsiaMater,2016(8):e320. 2.AbdulrahmanM.Al-Enizi,AbdulazizA.Bagabas,EtayebAsiri,etal.High-qualitysynthesisofsilvernanowiresviaγ-radiolysis-reductionprocesswithenhancedantibacterialactivity.JColloidInterfaceSci,2016(470):100-7. 3.JizhongSong,LongJiao,JingtingLu,etal.Fastsynthesisoflinearandbranchedsilvernanowiresforhighlyconductivethinfilms.RscAdv,2015(5):101446-51. 4.WenhaoWu,JiahuaZhang,LiuyingSun,etal.Thefabricatedsilvernanowirefilmasaflexiblefilmfororganiclightemittingdiodes.OptMater,2018(76):65-70. 6.LeiZhang,YapengCai,ShaojunJiang.SilverNanowireNetworks:FromFundamentalPhysicstoOptoelectronics.AdvMaterInterfaces,2017(4):1-51.