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Flash存储器故障模型及测试方法研究的任务书
任务书：
1.研究Flash存储器故障模型及测试方法。
2.深入分析Flash存储器故障的原因和机制，包括硬件故障和软件故障。
3.探究Flash存储器的测试方法，包括常规测试和故障注入测试，并比较它们的优缺点。
4.提出一种可行的Flash存储器故障测试方案，要求能够有效地检测出故障点并实现自动化测试。
5.设计并开发出Flash存储器故障测试工具或系统，实现对Flash存储器故障的全面检测。
6.对所开发的测试工具或系统进行测试和验证，评估其测试效果和可行性，并撰写详细的测试报告。
7.在项目结束时，向导师提交一份完整的研究报告，包括项目的目标、研究方法、测试结果和结论等内容。
要求：
1.熟练掌握Flash存储器的工作原理和测试方法。
2.具备较强的理论分析和问题解决能力，能够对Flash存储器故障进行深入研究。
3.具有一定的实践能力，能够运用所学知识设计和开发出相应的测试工具或系统。
4.具备良好的沟通能力和团队协作意识，能够与团队成员进行良好的合作。
参考文献：
1.张伟，闫盼盼，赵龙.Flash存储器测试方法研究[J].中国计算机学会通讯,2009,5(6):1-9.
2.李升，赵钦琛，张璞等.基于故障注入的Flash存储器测试方法[J].计算机研究与发展,2012,49(Supp.):341-347.
3.余志英，向勇，徐可.Flash存储器故障的分析和处理[J].电子科技大学学报,2010,39(6):996-1000.
4.林斌，马传锋，杨俊燕.Flash存储器无线电频谱测试方法[J].电子设计工程,2013,21(6):57-59.