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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109239098A(43)申请公布日2019.01.18(21)申请号201811111265.3(22)申请日2016.08.23(62)分案原申请数据201610709051.02016.08.23(71)申请人王永超地址325600浙江省温州市乐清市柳市镇荷坳村(72)发明人不公告发明人(51)Int.Cl.G01N21/95(2006.01)G01N21/01(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图4页(54)发明名称一种集成电路板的外观检测机构(57)摘要本发明公开了一种集成电路板的外观检测机构,包括检测机架,所述检测机架上设有检测底座,所述检测底座的两侧固定有两个竖直板,竖直板的上端中部铰接有连轴,所述连轴的一端固定有转动轮,两个转动轮的中部之间连接有传动轴,所述传动轴包括分别与两个转动轮连接的第一子轴和第二子轴,所述第一子轴的一端成型有第一内花键孔、另一端成型有第一外花键,所述第二子轴的两端均成型有第二外花键,转动轮的中部成型有第二内花键孔;所述传动轴上方的转动轮侧壁上成型有水平的插接槽,转动轮一侧的竖直板上固定有水平限位板。本发明减轻检测人员的劳动强度,且能提高检测效率。CN109239098ACN109239098A权利要求书1/1页1.一种集成电路板的外观检测机构,包括检测机架(10),其特征在于:所述检测机架(10)上设有检测底座(20),所述检测底座的两侧固定有两个竖直板(30),所述竖直板上方的检测机架(10)上设有工业相机(40),竖直板(30)的上端中部铰接有连轴(50),所述连轴的一端固定有转动轮(51),两个竖直板(30)上的转动轮(51)相对设置,与其中一个转动轮(51)固定的连轴(50)上设有连轴驱动件(52),两个转动轮(51)的中部之间连接有传动轴(54),所述传动轴包括分别与两个转动轮连接的第一子轴(541)和第二子轴(542),所述第一子轴(541)的一端成型有第一内花键孔(543)、另一端成型有第一外花键(544),所述第二子轴(542)的两端均成型有第二外花键(545),转动轮(51)的中部成型有第二内花键孔(511),第一子轴(541)的第一外花键(544)插套在其中一个转动轮(51)的第二内花键孔(511)中,第二子轴(542)的一端第二外花键(545)插套在第一子轴(541)的第一内花键孔(543)中、另一端第二外花键(545)插套在另一个转动轮(51)的第二内花键孔(511)中,第一子轴(541)和第二子轴(542)的一端端部距离转动轮(51)的第二内花键孔(511)的端部内壁一定距离;所述传动轴(54)上方的转动轮(51)侧壁上成型有水平的插接槽(512),转动轮(51)一侧的竖直板(30)上固定有水平限位板(60),所述水平限位板位于所述插接槽(512)的下方;所述转动轮(51)的插接槽(512)内插接有水平的用于插接集成电路板(1)的槽轨(70),所述槽轨的截面呈“匚”字形,槽轨(70)的一侧下端面抵靠在所述水平限位板(60)上,当槽轨(70)跟随转动轮(51)转过180度后,槽轨(70)的一侧上端面抵靠在水平限位板(60)上;所述槽轨(70)的两端成型有向外侧弯曲的弧形导向部(71);所述连轴驱动件(52)包括与连轴(50)的一端固定连接的转动手柄或者输出轴与连轴(50)的一端固定连接的驱动电机(521),所述驱动电机通过电机板(522)固定在竖直板(30)的侧壁上。2CN109239098A说明书1/4页一种集成电路板的外观检测机构技术领域[0001]本发明涉及集成电路检测设备的技术领域,具体是涉及一种集成电路板的外观检测机构。背景技术[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。其采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。[0003]集成电路在生产过程中均需要进行检测,其检测包括性能检测和外观检测,外观检测的项目包括会造成集成电路性能问题的划痕、凹陷的缺陷,现有的集成电路的外观检测一般人工进行目测完成,而人工目测集成电路的外观检测不仅容易造成疏漏,而且对检测人员的劳动强度较大,且检测效率不高。[0004]有鉴于上述的缺陷,本设计人,积极加以研究创新,以期创设一种新型结构的集成电路板的外观检测机构,使其更具有产业上的利用价值。发明内容[0005]本发明的目的旨在解决现有技术存在的问题,提供一种减轻检测人员的劳动强度,且能提高检测效率的集成电路板的外观检测机构。[0006]本发明涉及一种集成电路板的外观检测机构,包括检测机架,所述检测机架上设有