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InAsGaSb超晶格及量子点材料生长研究的中期报告
本研究旨在探究InAsGaSb超晶格及量子点材料的生长特性及其对器件性能的影响。在之前的研究中，我们已经成功地利用分子束外延技术在GaSb基片上生长了不同厚度的InAs/GaSb超晶格材料。并且通过电子束光刻和干法刻蚀工艺制备出了不同尺寸的InAs/GaSb量子点阵列。
在本次中期报告中，我们进行了以下工作：
1.对之前生长的InAs/GaSb超晶格材料进行了物性表征，主要包括X射线衍射、透射电镜、原子力显微镜等表征手段。结果表明，我们生长的InAs/GaSb超晶格材料结构完整，界面平整，晶格匹配优良，具有较好的光电性能。
2.对不同尺寸的InAs/GaSb量子点阵列进行了光电性能测试，主要包括PL、电学测试等。结果表明，量子点的尺寸和密度对其光电性能有重要的影响，小尺寸、高密度的量子点具有较好的能带结构和较强的光吸收能力。
3.进一步调控和优化量子点阵列的生长工艺和条件，尝试制备更加优异的量子点结构。
总体来说，本次中期报告展示了InAsGaSb超晶格及量子点材料的生长研究进展，为后续的器件制备和性能优化提供了基础。