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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109317424A(43)申请公布日2019.02.12(21)申请号201811180248.5(22)申请日2018.10.10(71)申请人唐兴云地址401564重庆市合川区龙市镇新场村17号附1号(72)发明人不公告发明人(51)Int.Cl.B07C5/34(2006.01)B07C5/02(2006.01)B07B13/05(2006.01)B07B13/16(2006.01)权利要求书2页说明书4页附图3页(54)发明名称一种芯片批量快速检测装置(57)摘要本发明公开了芯片检测技术领域的一种芯片批量快速检测装置,包括检测外壳,所述检测外壳内腔左侧开设有滑槽,所述滑槽内腔左侧活动连接有支撑板,所述检测外壳内腔顶部左侧安装有与滑槽位置相匹配的液压伸缩板,所述液压伸缩板底部均匀安装有检测针,所述检测外壳内腔中部左侧安装有主动轮,所述主动轮后端面安装有有伺服电机,与往复移动装置连接的固定杆一与固定杆二带动清理刷对厚度检测槽一和厚度检测槽二上被阻挡的芯片进行清理,将厚度检测槽一上的芯片通过清理刷移动到次品收集箱二内腔中,被厚度检测槽二阻挡的厚度合格芯片通过清理刷移动到合格品收集箱内腔中,及时将合格品与次品分别放入对应收集箱,避免散乱难以区分。CN109317424ACN109317424A权利要求书1/2页1.一种芯片批量快速检测装置,包括检测外壳(1),其特征在于:所述检测外壳(1)内腔左侧开设有滑槽(2),所述滑槽(2)内腔左侧活动连接有支撑板(3),所述检测外壳(1)内腔顶部左侧安装有与滑槽(2)位置相匹配的液压伸缩板(4),所述液压伸缩板(4)底部均匀安装有与支撑板(3)相匹配的检测针(5),所述检测外壳(1)内腔中部左侧安装有主动轮(6),所述主动轮(6)后端面安装有电机,所述主动轮(6)通过传动带(8)与从动轮(7)传动连接,所述从动轮(7)右侧底部设置有斜板(9),所述斜板(9)底部安装有次品收集箱一(18),所述斜板(9)右侧安装有厚度检测槽一(10)与厚度检测槽二(11),且厚度检测槽一(10)位于厚度检测槽二(11)上方,所述检测外壳(1)右侧安装有伺服电机(12),所述伺服电机(12)左侧输出端安装有转动轴(13)贯穿检测外壳(1)连接有往复移动装置(14),所述往复移动装置(14)左侧顶部与底部分别安装有固定杆一(15)与固定杆二(16),所述固定杆一(15)与固定杆二(16)远离往复移动装置(14)一端均安装有清理刷(17),顶部所述清理刷(17)与厚度检测槽一(10)顶部贴合,底部所述清理刷(17)与厚度检测槽二(11)顶部贴合,所述斜板(9)底部从左往右分别安装有次品收集箱二(20)、合格品收集箱(19)与次品收集箱一(18),所述次品收集箱二(20)与顶部清理刷(17)位置相匹配,所述合格品收集箱(19)与底部清理刷(17)位置相匹配,所述检测外壳(1)内腔左侧底部安装有次品收集箱三(21),所述检测外壳(1)内腔顶部中部开设有下滑槽(22)。2.根据权利要求1所述的一种芯片批量快速检测装置,其特征在于:所述往复移动装置(14)包括移动板(141),所述移动板(141)内腔中部安装有转动轮(142),所述转动轮(142)前端面安装有齿牙(143),所述移动板(141)内腔顶部与底部均开设有与齿牙(143)相匹配的齿槽(144)。3.根据权利要求1所述的一种芯片批量快速检测装置,其特征在于:所述支撑板(3)包括支撑板外壳(31),所述支撑板外壳(31)底部左右两侧均安装有固定板(32),所述固定板(32)顶部均安装有斜块(33),两组所述斜块(33)之间放置有芯片(34),所述支撑板外壳(31)底部均开设有开槽(35)。4.根据权利要求1所述的一种芯片批量快速检测装置,其特征在于:所述下滑槽(22)包括光滑板(221),所述光滑板(221)内腔从前往后均匀开设有芯片槽(222),所述光滑板(221)右侧底部安装有缓冲板(223),所述缓冲板(223)顶部均匀开设有防滑纹(224),所述缓冲板(223)右侧前后端面均通过连接杆(225)连接有挡板(226)。5.根据权利要求1所述的一种芯片批量快速检测装置,其特征在于:所述厚度检测槽一(10)与厚度检测槽二(11)为结构相同的两组,所述厚度检测槽一(10)的高度为120um,所述厚度检测槽二(11)的高度为110um。6.根据权利要求1所述的一种芯片批量快速检测装置,其特征在于:所述检测针(5)共设置有二十一组,且二十一组检测针(5)在液压伸缩板(4)底部从前往后等距离排布,且检测针(5)与支撑板(3)位置数量相匹配。7.一种芯片批量快速检测装置包括如下步骤,S1:检