光检测方法、光检测装置和程序.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110168310A(43)申请公布日2019.08.23(21)申请号201880006248.5(74)专利代理机构中国国际贸易促进委员会专(22)申请日2018.01.15利商标事务所11038代理人杜文树(30)优先权数据2017-0053992017.01.16JP(51)Int.Cl.G01B11/00(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日G01B11/08(2006.01)2019.07.09(86)PCT国际申请的申请数据PCT/JP2018/0007612018.01.15(87)PCT国际申请的公布数据WO2018/131700JA2018.07.19(71)申请人索尼公司地址日本东京(72)发明人森田宽鸟羽一彰山本真也上田健二朗高桥辽平权利要求书1页说明书7页附图5页(54)发明名称光检测方法、光检测装置和程序(57)摘要本发明的目的是甚至对于具有不均匀强度分布的光束仍然能够稳定地获得束直径或光轴。在相对于总光强度具有特定比率的光强度范围中获得了光束的截面的轮廓。从该轮廓获得近似圆。使用最小二乘法等计算近似圆。基于该近似圆获得光束的光轴和/或束直径。CN110168310ACN110168310A权利要求书1/1页1.一种光检测方法，包括：第一步，获得光束的横截面上相对于总光强度具有特定比率的光强度的范围的外形；和第二步，从该外形获得近似圆，并基于该近似圆获得光束的光轴和/或光的直径。2.根据权利要求1所述的光检测方法，其中，在第一步骤中，通过将在光束的横截面上的多个位置的光强度全部相加来获得总光强度，并且按照光强度的降序从多个位置中选择位置并将光强度依次相加，并且在相加的光强度相对于总光强度具有特定比率时，基于已经顺序选择的多个位置来获得外形。3.根据权利要求2所述的光检测方法，其中，光束的横截面上的所述多个位置包括对光束的横截面进行成像的成像元件的各个像素的位置。4.根据权利要求1所述的光检测方法，其中，在第一步骤中，通过将在光束的横截面上的多个位置的光强度全部相加来获得总光强度，并且按照光强度的升序从多个位置中选择位置并从总光强度中依次减去光强度，并且在剩余的光强度相对于总光强度具有特定比率时，基于已经顺序选择的多个位置来获得外形。5.根据权利要求4所述的光检测方法，其中，光束的横截面上的所述多个位置包括对光束的横截面进行成像的成像元件的各个像素的位置。6.根据权利要求1所述的光检测方法，其中光束包括准直光。7.根据权利要求1所述的光检测方法，其中，在第二步骤中，通过使用最小二乘法来从外形获得近似圆。8.根据权利要求1所述的光检测方法，其中光束包括多模激光束。9.根据权利要求1所述的光检测方法，其中光束包括从垂直腔面发射激光器发射的激光束。10.一种光检测装置，包括：成像元件，其对光束的横截面进行成像并获得所拍摄的图像数据；和处理单元，处理所拍摄的图像数据并获得光束的光轴和/或光的直径，其中，处理单元获得光束的横截面上相对于总光强度具有特定比率的光强度的范围的外形，从该外形获得近似圆，并基于该近似圆获得光束的光轴和/或光的直径。11.一种用于使计算机执行光检测方法的程序，该光检测方法包括：第一步，获得光束的横截面上相对于总光强度具有特定比率的光强度的范围的外形；和第二步，从该外形获得近似圆，并基于该近似圆获得光束的光轴和/或光的直径。2CN110168310A说明书1/7页光检测方法、光检测装置和程序技术领域[0001]本技术涉及光检测方法、光检测装置和程序，具体地说，涉及用于稳定地获得光束(除了准直光之外，还包括例如会聚光束或扩散光束的各种光束)的光轴或光的直径的光检测方法等。背景技术[0002]在用于规定光束的传统方法中被确定为不符合的一些情况因为在通信中满足所需的光量，所以不会引起任何问题。从作为收发系统而确保通信的观点来看，没有用于规定在发送侧或接收侧的光形式的方法。存在用于规定具有呈现正态分布的光强度的光的标准，例如“IEC61280-1-4”，但该标准基本上是针对表现出正态分布的单一模式来定义的。对于执行面发光的光源(例如垂直腔面发射激光器(VCSEL))难以以均匀的光强度分布执行输出，并且“IEC61280-1-4”不适用于这种情况。[0003]在连接器的插座和插头之间的连接中，最主要使用的方法是使用物理接触的光学连接方法，通过该物理接触，光纤芯物理地和直接地彼此连接。在该方法中，光直接在插座和插头的芯之间传播。即使在使用具有不具有正态分布的功率的光源的情况下，当光在光纤中经过一定距离时，从芯端面输出的光被归一化，因此可以根据“IEC61280-1-4”规定光的形式。[0004]在以光通信为主