一种包覆颗粒的厚度检测方法、装置和计算设备.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110428916A(43)申请公布日2019.11.08(21)申请号201910621193.5(22)申请日2019.07.10(71)申请人湖南大学地址410082湖南省长沙市麓山南路1号(72)发明人刘坚姜潮张航胡芮嘉熊岩李蓉陈宁(74)专利代理机构北京思睿峰知识产权代理有限公司11396代理人谢建云赵爱军(51)Int.Cl.G21C17/06(2006.01)G21C17/10(2006.01)G06T7/00(2017.01)权利要求书2页说明书13页附图7页(54)发明名称一种包覆颗粒的厚度检测方法、装置和计算设备(57)摘要本发明公开了一种包覆颗粒的厚度检测方法，适于在计算设备中执行，所述包覆颗粒包括内核层和至少一个包覆层，该方法包括步骤：获取包括待测包覆颗粒的全局剖面图像，并从全局剖面图像中提取待测颗粒图像；从待测颗粒图像中确定各层的种子点，并基于各层的种子点进行种子区域生长，得到各层的区域范围；基于各层的区域范围计算各层的轮廓线，并确定内核层的中心点；以及根据内核层的中心点和各层的轮廓线计算各层的厚度。本发明一并公开了相应的包覆颗粒的厚度检测装置和计算设备。CN110428916ACN110428916A权利要求书1/2页1.一种包覆颗粒的厚度检测方法，适于在计算设备中执行，所述包覆颗粒包括内核层和至少一个包覆层，所述方法包括步骤：获取包括待测包覆颗粒的全局剖面图像，并从所述全局剖面图像中提取待测颗粒图像；从所述待测颗粒图像中确定各层的种子点，并基于各层的种子点进行种子区域生长，得到各层的区域范围；基于各层的区域范围计算各层的轮廓线，并确定内核层的中心点；以及根据所述内核层的中心点和各层的轮廓线计算各层的厚度。2.如权利要求1所述的方法，其中，所述全局剖面图像为单颗粒视野图像，其由该待测颗粒的完整剖面和邻域背景构成。3.如权利要求1所述的方法，其中，从所述全局剖面图像中提取待测颗粒图像的步骤包括：确定所述待测颗粒的区域范围图像，将所述区域范围图像作为掩膜，从所述全局剖面图像中提取出所述待测颗粒图像。4.如权利要求3所述的方法，其中，所述确定所述待测颗粒的区域范围图像的步骤包括：依次对所述全局剖面图像进行灰度转换和二值处理，得到全局二值图像；生成所述全局二值图像的第一取反图像，并将所述第一取反图像中白色背景内的黑色区域填充为白色，得到全局填充图像；生成所述全局填充图像的第二取反图像，并将所述全局二值图像与所述全局取反图像进行相减处理，得到颗粒二值图像；以及对所述颗粒二值图像进行白色填充，得到所述待测颗粒的区域范围图像。5.如权利要求3或4所述的方法，其中，所述从所述待测颗粒图像中确定各层的种子点的步骤包括：确定所述区域范围图像的最外层轮廓线，计算该最外层轮廓线的重心点，并将该重心点作为内核层的种子点。6.如权利要求1-5中任一项所述的方法，其中，所述计算设备中存储有所述包覆颗粒中各层的参考厚度值，所述从所述待测颗粒图像中确定各层的种子点的步骤包括：对所述待测颗粒图像进行灰度转换，得到灰度图像；以及生成该灰度图像的灰度直方图，并结合各层的参考厚度值确定各包覆层的种子点。7.如权利要求6所述的方法，其中，所述生成所述待测颗粒图像的灰度直方图，并结合各层的参考厚度值确定各包覆层的种子点的步骤包括：根据所述灰度直方图中的多个灰度值及不同灰度值的分布点确定各层的初始分割区域及分割点；根据各层的参考厚度值对所述初始分割区域进行修正，并将修正后的各分割区域的分割点作为候选种子点；以及将每个分割区域内的候选种子点按照灰度值大小进行排序，并选取最中间灰度值的候选种子点作为对应包覆层的种子点。8.一种包覆颗粒的厚度检测装置，适于驻留在计算设备中，所述包覆颗粒包括内核层2CN110428916A权利要求书2/2页和至少一个包覆层，所述装置包括：目标图像提取模块，适于获取包括待测包覆颗粒的全局剖面图像，并从所述全局剖面图像中提取待测颗粒图像；分层区域确定模块，适于从所述待测颗粒图像中确定各层的种子点，并基于各层的种子点进行种子区域生长，得到各层的区域范围；轮廓线计算模块，适于基于各层的区域范围计算各层的轮廓线，并确定内核层的中心点；以及厚度计算模块，适于根据所述内核层的中心点和各层的轮廓线计算各层的厚度。9.一种计算设备，包括：一个或多个处理器；存储器；以及一个或多个程序，其中所述一个或多个程序存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述的方法的步骤。10.一种存储一个或多个程序的计算机可读存储介质，所述一个或多个程序包括指令，所述指令当由计算设备执行时实现权利要求1-7任一项所述