物体空间参数检测方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110826499A(43)申请公布日2020.02.21(21)申请号201911085358.8(22)申请日2019.11.08(71)申请人上海眼控科技股份有限公司地址200030上海市徐汇区中山南二路107号1幢20层I单元(72)发明人周康明俞云杰(74)专利代理机构北京同立钧成知识产权代理有限公司11205代理人吴会英刘芳(51)Int.Cl.G06K9/00(2006.01)G06T7/70(2017.01)G01B11/24(2006.01)G01C11/00(2006.01)权利要求书2页说明书12页附图8页(54)发明名称物体空间参数检测方法、装置、电子设备及存储介质(57)摘要本发明提供一种物体空间参数检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法应用于电子设备，包括：获取目标物体对应的二维图像；将二维图像输入已训练至收敛的识别模型中，以获得目标物体的类别信息、二维框信息和观察角，二维框框住目标物体；根据类别信息以及预设的类别信息与目标物体的三维框轮廓的映射关系，确定目标物体的三维框轮廓；根据目标物体的三维框轮廓，二维框信息和观察角确定目标物体的三维框坐标。本方法通过将获取目标物体的二维图像还原目标物体三维空间的参数，实现准确定位目标物体的位置信息的目的，提高物体三维空间检测的准确性。CN110826499ACN110826499A权利要求书1/2页1.一种物体空间参数检测方法，应用于电子设备，其特征在于，所述方法包括：获取目标物体对应的二维图像；将所述二维图像输入已训练至收敛的识别模型中，以获得所述目标物体的类别信息、二维框信息和观察角，所述二维框框住所述目标物体；根据所述类别信息以及预设的所述类别信息与所述目标物体的三维框轮廓的映射关系，确定所述目标物体的三维框轮廓；根据所述目标物体的三维框轮廓，所述二维框信息和所述观察角确定所述目标物体的三维框坐标；输出所述目标物体的三维框轮廓和所述三维框坐标。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述二维框信息包括：二维框轮廓和二维框坐标，所述根据所述目标物体的三维框轮廓，所述二维框信息和所述观察角确定所述目标物体的三维框坐标，包括：根据所述三维框轮廓与所述二维框轮廓在所述观察角下的投影关系，将所述二维框坐标转换为所述目标物体的三维框坐标。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述三维框轮廓与所述二维框轮廓在所述观察角下的投影关系，将所述二维框坐标转换为所述目标物体的三维框坐标，包括：根据所述二维框轮廓，所述观察角和所述二维框坐标，估算所述三维框坐标在所述二维框轮廓上的投影坐标；根据预设图像转换规则，将所述投影坐标转换为所述三维框坐标。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述二维框轮廓，所述观察角和所述二维框坐标，估算所述三维框坐标在所述二维框轮廓上的投影坐标，包括：根据所述二维框轮廓，计算第一投影参数；根据所述观察角，计算第二投影参数；根据所述第一投影参数、所述第二投影参数以及所述二维框坐标，估算所述三维框坐标在所述二维框轮廓上的投影坐标。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据预设图像转换规则，将所述投影坐标转换为所述三维框坐标，包括：根据预设图像转换规则，将所述投影坐标信息还原为单位三维坐标；根据所述单位三维坐标，计算单位三维框轮廓；根据所述三维框轮廓与所述单位三维框轮廓的比值，计算放大系数；将所述单位三维坐标与所述放大系数的乘积确定为所述三维框坐标。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电子设备包括图像采集传感器，用于采集所述二维图像，相应地，所述根据预设图像转换规则，将所述投影坐标还原为单位三维坐标，包括：获取所述图像采集传感器采集所述二维图像时的参数信息，所述参数信息包括预设图像转换规则，所述预设图像转换规则为投影坐标与单位三维坐标之间的转换关系；根据所述投影坐标与单位三维坐标之间的转换关系，将所述投影坐标还原为单位三维坐标。2CN110826499A权利要求书2/2页7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述目标物体的三维框轮廓，所述二维框信息和所述观察角确定所述目标物体的三维框坐标后，还包括：根据所述观察角和所述三维框坐标，确定所述目标物体的偏航角。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述二维图像输入已训练至收敛的识别模型中，以获得所述目标物体的类别信息、二维框信息和观察角之前，还包括：获取所述识别模型的训练样本，所述训练样本为标记过的二维图像；将所述标记过的二维图像输入至所述识别模型，对所述识别模型进行训练。9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述输出所述目标物体的三维框轮廓和所述三维框坐标之后