厚度测量方法、辊压机控制方法、装置及辊压机控制系统.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115608794A(43)申请公布日2023.01.17(21)申请号202211183360.0(22)申请日2022.09.27(71)申请人上海先导慧能技术有限公司地址201100上海市闵行区剑川路894号12幢(72)发明人请求不公布姓名(74)专利代理机构苏州衡创知识产权代理事务所(普通合伙)32329专利代理师蔡宝(51)Int.Cl.B21B38/04(2006.01)B21B38/08(2006.01)B21B38/00(2006.01)B21B37/16(2006.01)权利要求书3页说明书10页附图4页(54)发明名称厚度测量方法、辊压机控制方法、装置及辊压机控制系统(57)摘要本申请涉及一种厚度测量方法、辊压机控制方法、装置及辊压机控制系统。所述厚度测量方法包括：获取上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动、辊轮大小参数、辊轮材料特性参数、第一测距仪与第二测距仪的总距离；采集辊压物料过程中的辊轧力和弯辊力、第一测距仪在辊轮轴向上多个位置处与上辊轮之间的第一距离、第二测距仪在辊轮轴向上多个位置处与下辊轮之间的第二距离；根据辊轧力、弯辊力、平均径向圆跳动、辊轮大小参数和辊轮材料特性参数，计算上辊轮和下辊轮的平均厚度；根据总距离、第一距离、第二距离、上辊轮和下辊轮各自的平均厚度，计算被辊压的物料的实时厚度。采用本申请，可实现被辊压的物料的厚度的及时检测，提高厚度调节的精度。CN115608794ACN115608794A权利要求书1/3页1.一种厚度测量方法，其特征在于，包括：获取辊压机的上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动，获取所述上辊轮和所述下辊轮的辊轮大小参数和辊轮材料特性参数，以及第一测距仪与第二测距仪在辊压厚度方向上的总距离；其中，所述第一测距仪设置于所述上辊轮背离所述下辊轮的一侧，所述第二测距仪设置于所述下辊轮背离所述上辊轮的一侧；采集所述辊压机辊压物料过程中的辊轧力和弯辊力，以及所述第一测距仪在辊轮轴向上多个位置处与所述上辊轮之间的第一距离、所述第二测距仪在辊轮轴向上多个位置处与所述下辊轮之间的第二距离；根据所述辊轧力、所述弯辊力、所述上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动、所述上辊轮和所述下辊轮的辊轮大小参数以及所述辊轮材料特性参数，计算所述上辊轮和所述下辊轮各自在所述辊压厚度方向上的平均厚度；根据所述总距离、所述第一距离、所述第二距离、所述上辊轮和所述下辊轮各自在所述辊压厚度方向上的平均厚度，计算得到被辊压的物料的实时厚度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取辊压机的上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动，包括：在所述辊压机未施力的状态下，所述第一测距仪位于辊轮轴向上预设位置处时，采集所述上辊轮绕辊轴旋转一周过程中、所述上辊轮与所述第一测距仪的第一距离最大值和第一距离最小值，所述第二测距仪位于辊轮轴向上预设位置处时，采集所述下辊轮绕辊轴旋转一周过程中、所述下辊轮与所述第二测距仪的第二距离最大值和第二距离最小值；其中，所述预设位置有多个；分别计算各预设位置所对应的第一距离最大值和第一距离最小值的差值，得到各预设位置处所述上辊轮的径向圆跳动，分别计算各预设位置所对应的第二距离最大值和第二距离最小值的差值，得到各预设位置处所述下辊轮的径向圆跳动；基于各预设位置处所述上辊轮的径向圆跳动计算平均值，得到所述上辊轮的平均径向圆跳动，基于各预设位置处所述下辊轮的径向圆跳动计算平均值，得到所述下辊轮的平均径向圆跳动。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述辊轧力包括上辊轧力和下辊轧力，所述弯辊力包括上弯辊力和下弯辊力；所述根据所述辊轧力、所述弯辊力、所述上辊轮和下辊轮的平均径向圆跳动、所述上辊轮和所述下辊轮的辊轮大小参数以及所述辊轮材料特性参数，计算所述上辊轮和所述下辊轮各自在所述辊压厚度方向上的平均厚度，包括：采用已存的平均厚度模型，根据所述上辊轧力、所述上弯辊力、所述上辊轮的平均径向圆跳动、所述上辊轮的辊轮大小参数和所述辊轮材料特性参数，计算得到所述上辊轮在所述辊压厚度方向上的平均厚度；采用已存的平均厚度模型，根据所述下辊轧力、所述下弯辊力、所述下辊轮的平均径向圆跳动、所述下辊轮的辊轮大小参数和所述辊轮材料特性参数，计算得到所述下辊轮在所述辊压厚度方向上的平均厚度。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述总距离、所述第一距离、所述第二距离、所述上辊轮和所述下辊轮各自在所述辊压厚度方向上的平均厚度，计算得到被辊压的物料的实时厚度，包括：2CN115608794A权利要求书2/3页根据所述总距离、各个位置对应的第一距离和第二距离，计算各位置处所述上辊轮和所述下辊轮之间的表面距离；基于各位置处所述上辊轮和所述下辊轮之间的表面距离计算平均值，得到