预览加载中，请您耐心等待几秒...

表面磁通密度和剩余磁通密度的关系.doc

预览
1/2
2/2

在线预览结束，喜欢就下载吧，查找使用更方便

下载提示 文本预览

如果您无法下载资料，请参考说明：

1、部分资料下载需要金币，请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档，再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压，在使用对应软件打开

磁性能的测量对磁体生产厂家和使用客户来说，都是一个很重要的问题。磁体的精确测量，应使用测试仪；但在对大量产品的测试中，人们更多的使用的是测试磁体的表场，但表场究竟是一个什么概念？与静态测试有何联系？如何正确评价表场值？值得探讨。对于磁体表场的理论计算，据电磁理论可有以下公式：圆片类磁体表场计算公式：方块类磁体表场计算公式：其中长度为L、宽度为W、高度为T、x是测试点离磁体表面的距离。圆环类磁体表场计算公式：表场计算的理论公式描述了磁体表场随参量的变化规律，但与实际测量值有一定的差别，故实际我们在计算时可在其理论值计算的基础上加一修正系数：一般我们取为0.8-0.9，或采用一些更与实际相接近的经验公式。