GaAs材料光电压谱特性分析.pdf
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南京理工大学硕士学位论文GaAs材料光电压谱特性分析姓名:任浩申请学位级别:硕士专业:物理电子学指导教师:钱芸生20090530摘要关键词:布及角分布集中,长波阈可调,长波响应扩展潜力大等优点,在近几十年中取得了迅猛的、设备相对简单的测试方法对GaAs材料参数测试是本文主要研究和讨论的问题。本究,主要内容如下:首先,介绍了GaAs光电阴极的发展和应用,分析了光电压谱测试技术在GaAs光电阴极材料测评中的优越性与可行性,阐述了表面光电压的产生以及表面光电压测试技术的原理,论述了对GaAs光电阴极的扩散长度进
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GaAsMESFET直流特性退化的失效分析GaAsMESFET是一种广泛应用于微波和射频领域的半导体器件。然而,长时间使用和环境条件变化可能导致它的直流特性退化,从而限制了其性能和可靠性。本论文将重点讨论GaAsMESFET直流特性退化的失效分析,探讨其原因和可能的解决方案。一、失效分析直流特性退化是指GaAsMESFET在长时间使用过程中遇到的性能下降和故障。这些退化可能表现为电流漂移、电压漂移、阈值电压变化等。失效分析的目标是确定退化的原因并采取相应的修复措施。1.1电子迁移效应在GaAsMESFET