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仙宇电子有限公司检验标准(EB) 文件编号:XYEB-Q-010文件名称:LCD(IQC)检验标准文件版本:F 执行部门:品质部生效日期:2011-11-01页码/总页: 编定者:徐法泽审核者:批准者: 1.目的 促进检验工作的标准化,提高检验的完整性,保证产品品质的稳定性。 2.适用范围 2.1适用于本公司生产及外发的所有1.8-3.5”。 2.2相关来料的检验及由来料不良导致的产品缺陷的判定。 2.3相关产品的出货检验。 3.名词定义 3.1良品:在我司规格要求内可以正常上线使用的物料,用代码“A品”标示 3.2次品:超出我司正常使用规格,但显示,功能均OK的物料,例如亮点超出我司正常是使用规格,液晶 不良,屏淡,Mura等,用代码“B品”标示,(其中B1为制程B级,B2为来料B级)二类。 3.3报废品:产品无法正常点亮,画面显示异常,无显示,横缺,竖缺等不品,用代码“F” 其中F1(制程坏品),F2(来料坏品,包括IQC检出坏品) 4.来料检验部分 4.1检查条件 检查类型检查条件规格范围 灯箱亮度白光,1000±500Lux 环境光亮度白光,200-300Lux 测试温度22±3°C 目视 视线距离眼睛到玻璃表面的距离为30cm 视角垂直于玻璃表面±45° 检查时间不超过1分钟 4.2包装要求: 4.2.1必须真空包装,且防震 4.2.2良品,次品,报废品必须分别包装,并且良品用白色标签,次品及报废品用红色标签,外包装箱上必须注 明良品,次品,报废品等字样。 4.2.3每批出货必须同时附带对应的品质出货报告,报告中应至少体现本批LCD各种异常现象及比例,来料 总不良率,制程总不良率,及前三大不良现象和对应的原因分析等。 仙宇电子有限公司检验标准(EB) 文件编号:XYEB-Q-010文件名称:LCD(IQC)检验标准文件版本:F 执行部门:品质部生效日期:2011-11-01页码/总页: 4.3来料外观检验标准 产品区域示意图 BM区ITO端 显示区域 4.3.1外观检验标准 项目说明或图示分类 判断标准 玻璃表面上浮尘等易于清洁的杂质不 计,残留胶质等用酒精不可擦拭掉的 固态物质不可有。 表面脏污无F1ITO以及表面不可有玻璃碎,无法擦除 尘灰不可有; ITO上的SPACER和表面浮尘忽略不计 Φ≦0.10mm,(N≤5) 点缺陷(外观) 0.10<Φ≦0.15 A级品 ba允许2个,两点间距离不小于10mm 0.15<Φ≦0.20,允许1个 Φ=(a+b)/20.20<Φ,不允许 超出A级品的点状 B1外观不良均按B1 规判定 W≦0.02mm,L≦3mm,(N≤5) W 0.02<W≦0.03,L ,允许条, ≦3.02 A级品条大 L两间距离于 0.03<W≦0.05,L ≦2.0,允许1条 线缺陷(非ITO端) W>0.05,L≦2mm W≦0.05,L>2mm,不允许 超出A级品的线状外观不良 均按规判定 B1B1 仙宇电子有限公司检验标准(EB) 文件编号:XYEB-Q-010文件名称:LCD(IQC)检验标准文件版本:F 执行部门:品质部生效日期:2011-11-01页码/总页: 判断标准 项目说明或图示分类 点A级(可返工)不允许有封口胶脱落/发白现象 胶 不封口胶不良封口胶脱落/发白现象可接受,但不可 良B级/超B1为F1有漏液 此不良内部返工补点胶后可做A品 氧F1 化线路氧化不允许走线存在ITO腐蚀现象 ITO 正面非线路区/线路区背面:L≦3.0mm 端ITO线路划F1 线路区:不可有 刮伤 对位mark:不可伤 伤 切割误差偏移a≦0.1mm 切割缺陷F1 表面缺角(chipping):c<LCD厚度 a(深度)≦0.5mm,b(宽度)≦3mm F1(不可伤及框胶,对位mark,线路, 玻璃缺陷破损不可造成画面不良) LCD正返面皆为此标准 1:a≦0.1mm 玻璃凸缘 F12:若凸缘是凹进的,则视为缺角 仙宇电子有限公司检验标准(EB) 文件编号:XYEB-Q-010文件名称:LCD(IQC)检验标准文件版本:F 执行部门:品质部生效日期:2011-11-01页码/总页: 4.3.2其它外观不良 序 不良名判定基准图示备注 号 1、在上下片 玻璃间不动 玻璃屑可接 ITO上玻 1受; 璃屑 2、在擦拭区 的ITO走线 上不可接受; 连续擦试三 确认是否存 ITO脏污遍无法擦拭 2在规律性或 (点状)掉的脏污为 普遍性问题 NG 连续擦试三 确