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精密分析仪器简介

扫描电子显微镜—能谱仪（SEM－EDS）
仪器型号：SEM：JSM－5600LV；EDS：IE300X
生产厂家：SEM：日本JEOL；EDS：英国Oxford
主要配置：
SEM：二次电子探测器，背散射电子探测器；EDS：Si(Li)超薄窗；X射线探测器，全数字化脉冲处理器；喷金仪，喷碳仪。
主要技术指标：
SEM：高真空分辨率3.5nm，低真空分辨率4.5nm;
SEM:放大倍数范围18-300,000；
EDS：Mn的Kα处的分辨率优于132eV；可测元素范围4Be-92U。
主要用途：
固体样品表面微区形貌观察；
材料断口形貌及其内部结构分析；
微粒或纤维形状观察及其尺寸分析；
固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。

透射电子显微镜（TEM）
仪器型号：H－800
生产厂家：日本Hitachi
主要配置：
SEM探测器，STEM探测器，真空镀膜仪，超薄切片机。
主要技术指标：
分辨率：可倾动角±25°时，晶格分辨0.204nm，点间距0.45nm；
放大倍数：电子图象：1000～6×105（30档可调），选区图象：1000～3×105（25档可调）；
加速电压：200kV、175kV、150kV、100kV、75kV。
主要用途：
分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构；
分析高分子材料及其复合材料的形态结构；
微粒形状观察及其尺寸分析；
染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。

扫描探针显微镜（SPM）
仪器型号：NanoScopeⅣ
生产厂家：美国Veeco
主要配置：
接触模式、轻敲模式；静电力模式、磁力模式、扫描隧道模式、摩擦力模式；配有液体样品池，可用于分析液体环境中的样品；加热台，控温范围：室温～250℃。
主要技术指标：
最大平面扫描范围：125μm×125μm；
最大垂直扫描范围：2.5μm；
最高水平分辨率：0.1nm；
最高垂直分辨率：0.01nm。
主要用途：
材料表面形貌、相组成分析；
材料表面各种缺陷、污染情况分析；
材料表面力性能研究；
材料表面电、磁性能研究。

X射线衍射仪（XRD）
仪器型号：D/Max-2550PC
生产厂家：日本RIGAKU
主要配置：
铜靶，自动可变狭缝系统，全自动弯（平）晶石墨单色仪；纤维取向度测试附件，变温附件；JADE软件包（可用于物相定性分析，晶粒大小和晶胞畸变的测定，结晶度测定，点阵参数精密化等）。
主要技术指标：
最大输出功率：18kW；
2角测量范围：0.5～145；
2角测量准确性：0.01；
测试温度范围：室温～15000C。
主要用途：
物相定性或定量分析；
晶体结构的分析；
结晶度测定（多峰分离法）；
晶粒取向度测定；
材料物相随温度变化的研究。

高级旋转流变系统（ARES）
仪器型号：ARES－RFS
生产厂家：美国TA
主要配置：
各种规格的锥板夹具、平板夹具以及同心圆筒夹具，固体扭摆夹具；强制空气对流炉（室温～6000C），恒温水浴（－100C～700C）；电流变附件，介电附件，熔体拉伸粘度附件；压片制样机，氮气发生器。
主要技术指标：
震荡频率范围：10-4－30Hz；
应变振幅：5μrad-500mrad；
扭矩范围：0.2μN.m-100mN.m；
法向力测量范围：0.01-20N。
主要用途：
测定热塑性聚合物熔体的稳态和动态流变学参数；
测定聚合物溶液以及其它低粘度流体的流变学参数；；
测定电流变液的电流变性能；
测定聚合物的介电性能。

静态/动态激光光散射仪（SLLS/DLLS）
仪器型号：BI-200SM
生产厂家：美国Brookhaven
主要配置：
50mW固体激光器（波长532nm），测角仪（测角范围：80～1620），光电倍增管检测器，采用互相关技术的相关器；dn/dc值测定仪，外循环温控系统。
主要技术指标：
聚合物重均分子量（Mw）测量范围：500～108Daltons；
胶体粒子水动力学直径（DH）测量范围：1～5000nm；
聚合物均方根旋转半径（Rg）测量范围：10～1000nm；
测量温度范围：4～800C。
主要用途：
测定胶束、胶体粒子的大小及其分布；
测定聚合物重均分子量；
研究聚合物溶液中分子链的构象及其与溶剂分子之间的相互作用；
研究蛋白质、多糖分子的构象及其聚集过程。

凝胶渗透色谱－光散射联用仪（GPC－LS）
仪器型号：BI-MwA
生产厂家：GPC：美国Waters，LS：美国Brookhaven
主要配置：
高压梯度泵，手动进样器，Styragel系列色谱柱，多角度光散射仪，CCD检测器。
主要技术指标：
流动相（四氢呋喃）流速范围:0.001-10.000