电磁继电器加速寿命试验系统的软硬件设计.doc

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电磁继电器加速寿命试验系统的软硬件设计
参考资料：http://blog.sina.com.cn/s/blog_71facf0001010n63.html

引言
电磁继电器广泛应用于产业控制、农业、交通运输、国防军事、空间技术及日常生活等领域，是远控、远测、通讯、检测、保护等电子设备不可缺少的基本元件，它是否正常工作将直接关系到含有该继电器的设备或产品的稳定性和可靠性。随着继电器技术的发展及继电器应用范围的不断扩大，对继电器的性能、寿命、可靠性等方面的要求越来越高。在整个寿命期内，任何产品都有贮存、运输、待命、工作等任务阶段，每个任务阶段对应不同的环境剖面与时间，要求产品在任何工作阶段均能完成规定的功能。
对长期处于工作状态的产品，产品的工作可靠度主要取决于工作阶段的环境与工作时间。对一次性使用的产品，由于贮存时间远远大于使用时间，其工作可靠度与贮存时间有关。因此，如何使用更科学的技术手段，对产品的工作可靠性和贮存可靠性进行较客观的猜测与评估，是产品应用与发展的关键环节之一。国内部分生产单位开始用微机检测系统对电磁继电器的寿命及其他参数进行检测，但它是在正常工作条件下，采用一般寿命试验方法估计产品的各种可靠性特征。对寿命特别长的产品来说，这种方法并分歧适。由于它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰。
针对以上间题，经过不断研究，在寿命试验的基础上，本文提出了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。
二、加速寿命试验分析
加速寿命试验就是用人工方法加大试验应力(如热应力、湿应力、机械应力等)的方法，加快元器件失效，缩短试验时间，以便在较短的时间内猜测出在正常的(即额定的或实际使用的)条件下的寿命特征。加速寿命试验的分析方法主要是利用元器件的失效数据，运用加速寿命曲线推算出该批元器件在正常条件下的可靠性寿命特征。这类试验方法应用较广泛，主要原因是研究周期短，可大大缩短试验时间。加速寿命试验通常分以下3种：
(一)恒定应力加速寿命试验，即把一种应力加在受试产品样品上，该应力水平在整个试验中保持不变，为了达到加速失效缩短试验时间的目的，要求各组寿命试验的应力都高于正常工作条件下的应力。即在不改变产品失效机理的条件下，模拟实际的环境因素，适当进步应力等级，在短期内得出与现场长期贮存试验相似的结果。
(二)步进应力加速寿命试验，这是一种随时间、分阶段逐步在受试样品上增加应力，直到样品开始出现大量失效为止的试验方法。
(三)序进应力加速寿命试验，这是一种随时间等速增加应力到受试产品样品上，直到样品开始出现大量失效为止的试验方案。采用该方案时，产品不分组，应力不分档，应力等速升高，直到发生一定数目的故障为止。它所施加的应力水平将随时间等速上升，因此这种试验需要有专门的设备。
在上述3种加速寿命试验中，恒定应力加速寿命试验更为成熟，数据易处理，外推精度高。尽管这种试验所需时间不是最短，但与一般的寿命试验相比还是缩短了不少时间，因此它较常用。影响电磁继电器寿命的因素很多。比如，在存贮过程中，产品的各项性能受温度、湿度、光照、腐蚀、氧化、干裂、软化、霉变、结晶等环境因素的影响很大。特别是非金属材料，在温度、湿度、天气等条件下，更有明显的老化现象，贮存时间越长，老化越严重，甚至失效报废，其中温度对电磁继电器寿命的影响尤为明显，因而本试验装置采用温度为恒定应力加速寿命试验的加速应力，即将测试样品放进一定温度，丈量在此环境下的试验数据。
三、硬件设计
电磁继电器寿命加速试验装置包括试验控制柜、负载、自动调温箱(提供加速应力)3部分，其中控制柜由工控机、数据采集控制电路、线圈驱动电路组成，是设计的主要内容。硬件电路结构框图如图1所示。
数据采集控制电路主要包括译码电路、数据采集电路及比较电压给定电路。工控机通过地址总线将地址传给译码器进行译码，译码电路选定该地址所对应的芯片，以便对其进行读写操纵。数据采集电路的工作原理是测试样品触头电压与比较电压，通过电压比较器进行比较，将得到的触头状态经光电耦合器传送给触头状态寄存器。当执行“读”检测数据的操纵时，寄存器中的数据通过缓冲器传到数据总线上;同时用数据采集卡采集触头上实际电压值，送至工控机进行存储显示。比较电压给定电路的工作原理是通过译码电路选定锁存器，进行“写”操纵，并将其输出的数字信号经光电耦合器送给D/A转换器，以产生试验所需的比较电压。
线圈驱动电路通过控制工控机的输出来控制电磁继电器线圈的通断电操纵，使其能闭合或断开，以模拟正常的工作状态。该部分电路由直流电源、固态继电器及电磁继电器线圈组成，其中直流电源提供加在线圈上的电信号，固态继电器控制加在电磁继电器线圈上的直流电源的通断。当某一测