风扇老化测试装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112814937A(43)申请公布日2021.05.18(21)申请号201911116496.8(22)申请日2019.11.15(71)申请人神讯电脑（昆山）有限公司地址215300江苏省苏州市昆山市综合保税区第二大道269号(72)发明人张荣斌(51)Int.Cl.F04D27/00(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图2页(54)发明名称风扇老化测试装置(57)摘要一种风扇老化测试装置，其包括：电源模块，其具有一电源输出端；降压模块，其具有一输入端、一降压芯片及一输出端，所述输入端与与所述电源输出端电性连接；老化箱，其具有若干个老化架、一加热器及一温控器，所述若干个老化架设置于所述老化箱中，所述温控器控制所述加热器的加热温度；检测模块，其具有一分析模块及一显示模块，所述分析模块对所述风扇进行监测分析并得出一分析结果，所述显示模块显示所述分析模块的分析结果。本发明的风扇老化测试装置解决了现有技术检测电压不稳定的问题，极大地提高风扇检测效率，可以满足现阶段的检测需求。CN112814937ACN112814937A权利要求书1/1页1.一种风扇老化测试装置，其特征在于，包括：电源模块，其具有一电源输出端；降压模块，其具有一输入端、一降压芯片及一输出端，所述输入端与与所述电源输出端电性连接；老化箱，其具有若干个老化架、一加热器及一温控器，所述若干个老化架设置于所述老化箱中，所述温控器控制所述加热器的加热温度；检测模块，其具有一分析模块及一显示模块，所述分析模块对所述风扇进行监测分析并得出一分析结果，所述显示模块显示所述分析模块的分析结果。2.根据权利要求1所述的贴片电阻检测装置，其特征在于，所述电源模块为一电源适配器，源适配器的输出电压在6V-20V之间。3.根据权利要求1所述的贴片电阻检测装置，其特征在于，所述降压芯片为一AMS1117芯片，所述AMS1117芯片的输出电压在3V-5V之间。4.根据权利要求1所述的贴片电阻检测装置，其特征在于，所述降压模块的输出端还串联若干个电阻。5.根据权利要求1所述的贴片电阻检测装置，其特征在于，所述风扇老化测试装置还包括一报警模块，所述报警模块与所述检测模块连接。6.根据权利要求1所述的贴片电阻检测装置，其特征在于，所述风扇老化测试装置还包括两滤波电路模块，所述两滤波电路模块分别与所述降压模块的输入端、输出端连接，所述滤波电路模块包括多个电容。7.根据权利要求6所述的贴片电阻检测装置，其特征在于，所述电容的电容值在47uf-104uf之间。2CN112814937A说明书1/3页风扇老化测试装置【技术领域】[0001]本发明涉及一种电阻测试装置，具体涉及一种风扇老化测试装置。【背景技术】[0002]目前，工厂在将风扇组装至电子产品前，需要进行老化测试，进行老化测试的目的是使不良风扇的缺陷在组装前暴露出来，例如风扇中焊点连接的可靠性，或者风扇在设计、材料和工艺等方面的缺陷，以便提高风扇组装的稳定性，以及减少电子产品的返修率。然而，现有的风扇老化测试装置调节电流复杂、繁锁和电流不稳定，并且由于电路复杂以及电子元件较多，导致目前的测试成本较高。[0003]有鉴于此，本发明提供了一种风扇老化测试装置，用来解决目前老化测试成本较高的问题。【发明内容】[0004]因此，为了达到上述目的，本发明提供的一种风扇老化测试装置，用于对风扇进行老化测试，其包括：[0005]电源模块，其具有一电源输出端；[0006]降压模块，其具有一输入端、一降压芯片及一输出端，所述输入端与与所述电源输出端电性连接；[0007]老化箱，其具有若干个老化架、一加热器及一温控器，所述若干个老化架设置于所述老化箱中，所述温控器控制所述加热器的加热温度；[0008]检测模块，其具有一分析模块及一显示模块，所述分析模块对所述风扇进行监测分析并得出一分析结果，所述显示模块显示所述分析模块的分析结果。[0009]可选的，所述电源模块为一电源适配器，源适配器的输出电压在6V-20V之间。[0010]可选的，所述降压芯片为一AMS1117芯片，所述AMS1117芯片的输出电压在3V-5V之间。[0011]可选的，所述降压模块的输出端还串联若干个电阻。[0012]可选的，所述风扇老化测试装置还包括一报警模块，所述报警模块与所述检测模块连接。[0013]可选的，所述风扇老化测试装置还包括两滤波电路模块，所述两滤波电路模块分别与所述降压模块的输入端、输出端连接，所述滤波电路模块包括多个电容。[0014]可选的，所述电容的电容值在47uf-104uf之间。[0015]本发明提供的风扇老化测试装置，先通过降压模块将电源模块的输出电压进行降压，再将该降压后的电压传送