Si基异质结构发光的研究现状.pdf
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Si基异质结构发光的研究现状.pdf
第20卷第5期半导体光电Vol.20No.51999年10月SemiconductorOptoelectronicsOct.1999文章编号:1001-5868(1999)05-0294-07Si基异质结构发光的研究现状余金中(中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室,北京100083)摘要:综述了Si基异质结构发光研究的现状。介绍了Si材料本身的本征发光、激子发光、杂质发光等特性,描述了掺Er-Si的发光、Si基量子结构(量子阱、量子点)的光发射,重点研究SiGe/Si异质结构的发光性质。同时还
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Si基GaN异质结构无金欧姆接触研究的开题报告摘要随着半导体技术的不断发展,Si基GaN异质结构作为一种新型半导体器件越来越受到人们的关注。在该异质结构中,金属欧姆接触是设备性能的关键因素之一。然而,Si基GaN异质结构中的金属欧姆接触不如GaN基异质结构中的金属欧姆接触稳定。因此,本文拟对Si基GaN异质结构无金欧姆接触进行研究,探究其相关机理,为异质结构的应用提供参考。关键词:Si基GaN异质结构;金属欧姆接触;稳定性;机理。AbstractWiththecontinuousdevelopmentof