磁粉探伤基础.ppt

磁粉探伤培训资料磁粉探伤磁粉探伤机图示磁粉探伤方法表1探伤方法分类2、探伤装置2.5干法中的磁粉施加装置，必须使干燥的磁粉始终呈均匀分散状态，能稳定地把磁粉施加到试件上去而不影响已生成的磁痕。
2.6使用荧光磁粉或荧光磁粉磁悬液探伤时，要采用黑光灯照射装置，该装置辐射波长为320~400nm。在距离黑光灯380mm的试件表面。紫外线辐照度原则上应大于800μW/cm2，或按GB/T5097间接进行测定。
2.7退磁装置应能根据试件的用途将剩磁减小到指定的限度，剩磁感应强度应低于0.3mT。
2.8探伤装置须定期校验，一般规定每年校验一次，包括对电流表、计时装置、黑光灯照射装置的性能确认。3.磁粉及磁悬液3.4磁悬液中的磁粉浓度应根据磁粉种类、粒度以及施加磁粉的方法、时间来确定，磁悬液中每单位容积（1L）所含磁粉的质量为磁悬液的浓度单位（g/L）。一般非荧光磁粉采用2~10g/L，荧光磁粉采用0.2 ~2g/L。磁悬液的磁粉浓度测定方法见附录B（参考件）。
4.标准试片及对比试片
4.1A型标准试片4.1.1A型标准试片用来检查探伤装置、磁粉、磁悬液的综合性能以及连续法中试件表面的有效磁场强度和方向、有效探伤范围、探伤操作是否正确等。这种试片必须经有关计量部门鉴定。
4.1.2A型标准试片分高、中、低三种灵敏度，其型号中的分数值越小，则要求能显示磁痕的有效磁场强度越高。此灵敏度不代表实际能检测缺陷的大小。
4.1.3A型标准试片中有圆形和十字形人工槽，几何尺寸如图1所示。A型标准试片型号，相对槽深与材质如表2所示。表2A型标准试片4.1.4应根据对探伤灵敏度的要求，选用相应的A型标准试片。当需要更强的有效磁场时，可用标准试片型号的倍数来表示，例如A-30/100×2表示进行探伤的磁化电流应为A-30/100型试片上获得磁痕的磁化电流的2倍。
4.1.5使用A型标准试片时，应将没有人工槽的一面置于外侧，并用粘胶纸将试片紧贴在探伤面上。注意粘胶纸不可贴没人工槽相对应的部位。
4.1.6对A型标准试片施加磁粉时，应采用连续法。
4.1.7A型标准试片的形状、尺寸发生变化后，不得继续使用。5.探伤操作5.1.3如试件上的油脂或其他附着物、涂料、镀层等影响探伤灵敏度或使磁悬液受到污染时，必须把它们清除掉，并洗干净。
5.1.4使用干磁粉或使用与清洗液性质不同的磁悬液时，必须使试件表面干燥。
5.1.5为了防止试件烧损，提高通电效果，必须使试件与电机接触良好，必要时应在电极上防止导电衬垫。
5.1.6对油孔或其他难以去除内部磁粉的部位，可在探伤前用适当的物质把它们堵住。6.磁化表3磁化方法6.3施加磁粉
6.3.1施加磁粉时，应将适量的、分布均匀的磁粉施加在有效探伤范围的探伤面上，使之吸附在缺陷部位，此时必须使探伤面不再被磁粉玷污，以形成对比良好的缺陷磁痕。为此，应根据试件的磁特性、形状、尺寸、表面状态、磁化方法及探伤环境，选择合适的磁粉和分散剂种类、磁悬液浓度以及磁粉施加方法。
6.3.2在连续法探伤时，应在磁化过程中完成施加磁粉。此时必须注意磁化结束后形成的磁痕不要被流动着的分散剂所破坏。
6.3.3用剩磁法探伤时，磁粉应在磁化结束后施加，必须注意施加磁粉前其他强磁体不得接触试件。6.3.4采用干法时，必须确认磁粉和探伤面已完全干燥后，再把适量的磁粉轻轻地喷洒到试件上。为了便于形成缺陷磁痕，可以轻微地振动探伤面或利用柔和的气流去除多余的磁粉，但必须注意不得破坏已形成的缺陷磁痕。
6.3.5采用湿法时，应确认整个探伤面能被磁悬液良好的湿润后再把磁悬液浇在探伤面上，或将试件浸渍在磁悬液中，磁化后轻轻取出。无论哪一种方法，都要注意不使探伤面上磁悬液流速过快。6.4磁痕的观察a.端面突变显示因试件形状的差别，在试件磁回路截面积突变部位，生漏磁场，形成较模糊的磁痕。
b.表面粗糙显示由细小的凹凸部分产生的漏磁场形成的磁痕或磁粉存留在凹处而产生的磁痕。
c.材质边界显示因磁导率不同的材质或金属组织的边界产生的漏磁场所形成的磁痕。
6.4.5磁痕可用照相、素描、复印等方法进行记录。需要时，也可用透明清漆将其固定在探伤面上。6.5退磁7.探伤记录7.2.3磁化方法按表3的分类进行记录。
7.2.4探伤灵敏度用标准试片的规格型号表示。
7.2.5探伤结果应对有无缺陷磁痕；缺陷磁痕的类型、尺寸、形态、位置等作出记录。并按相关条款的规定作具体的分类。7.3其他磁粉探伤基础知识复习提纲5：能检测带薄漆层的元件，能检测出近表面不开口的缺 陷，检测缺陷重复性好，对单个工件检测速度快是磁 粉检测优于渗透检测的理由。
6：磁粉检测的基础是不连续性处漏磁场与磁粉的磁相互 作用，磁粉检测显示缺陷直观，磁痕对缺陷宽度有放 大作用。
7：通电导体内的磁场强度，与距导体中心轴线