EMC电磁相容介绍.ppt

EMC電磁相容介紹何謂EMC?何謂EMC?(續)何謂電磁波?電磁波輻射EMI電磁干擾EMI(RE、CE)EMI(RE、CE)圖示如何驗證EMIEMI產生之三要素EMS電磁耐受EMI、EMS示意圖WhatisEMC?EMCandTestLabEMCRegulationEMI輻射測試EMI測試應用天線的種類(1)天線的種類(2)電波無反射室各種不同之Chamber-1各種不同之Chamber-2OpenAreaTestSite(OATS)辐射Radiation场地照 ConductedEmission仪器清单Whatislimit?RadiatedEmissionTestSITEB(10mchamber)Immunity驗證標準如何驗證Immunity**ESD场地照**EFT场地照**Surge场地照**VoltageDip场地照**RS场地**CS场地照測試項目SignalandTelecommunicationPortDCInputPowerPort
EUT和ac/dcConverter一起販售者除外
如dc來源是含在signalcable裏,則只需用signalcable測試方式測試即可ACInputPowerPort(包含EUT和ac/dcConverter一起販售者)判定標準定義
PerformanceCriteriaA
*產品於測試前後及測試中之功能不可有任何改變者。
*製造者可以於說明書中指明暴露於測試條件下允許少許受干擾,但不影響設備正常功能者,但測試後須自動恢復正常。
*上述中的條件測試,測試實驗室須依製造者所述之Permissionlevel執行測試,以驗證其真實性,並記錄於Report中。
PerformanceCriteriaB
*測試中可以有預期功能上的降損,但測試後,無須人工介入且功能正常運作。
*上述中的錯誤,若製造者於說明書中未提及可允許的情況,則須依使用者立場來對此產品來加以判定,如:儲存設備,於干擾環境存在時,根本無法儲存或儲存的Data和預期完全不同,雖干擾環境消失功能正常,應不可列為此級水準。
PerformanceCriteriaC
*可以有功能的錯誤,且此錯誤可以由EUT自動恢復或藉由人工方式依使用手冊恢復之。
*存於不易變記憶體中的資料或因有電池保護的資料或功能,不可有遺失。ESD(以IEC61000-4-2為參考)
只要於使用手冊中提及的功能,且使用者會接觸的部份均應試打。如印表機裝紙時必須打開裝紙夾,則此過程中任何可以手接觸之部份均須試打。
本標準對開放式的連接器不要求測試,如:用端子鎖緊之端點及Videocable空置的狀態…等。
接触放電(Contactdischarge)
至少放電200次(正、負各100次;至少4個點,每個點各50次)
上述4個點的定義：其中一個點打EUT正面之水平耦合板(HCP)中心點位置至少50次(正、負至少25次),其餘三面至少各直接打50次於EUT上。
若無直接放電點存在,則施與垂直耦合板(VCP)之間接放電(indirect)至少200次。
有外漆之EUT,應判斷其噴漆的目的為美觀非絕緣目的時,應將漆刺破施與放電。
空間放電(airdischarge)
無法直接放電的地方,應施與空間放電(airdischarge),如:keyboard按鍵間之間隙,keyboard之蓋子及電話筒之類。
有外漆之EUT,若會放電亦應施與放電。(不論外漆之目的為何)
每一放電點至少放電正、負10次。
每次放電間隔至少1秒鐘。RS(以IEC61000-4-3為依據)
測試頻點停駐時間(dwelltime)不可低於EUT動作時間(非Clock),但不應超過5秒鐘。
如果EUT太大,應施與局部暴測,其規則如下：
可以重新調整EUT位置,使其正面保持測試距離局部暴測。
如果EUT為可拆解之模組,則可拆解後個別測試。但有爭議時以全面暴測為準。
暴測的間隔頻率正常為1%,但可以用測試Level之兩倍值而加大間隔,但以不超過基頻4%為原則。若有爭議以1%之正常值測試為準。
若有Pre-test過,已知那一面較易受干擾時,可以該面做Final測試,否則四面全部測試。
EFT(以IEC61000-4-4為依據)
相同的Port只要測一個代表即可。
一條Cable中包含多對信號線時,以單一Cable型式測試,不可將Cable分成數部份測試。
介面埠,若製造者非意圖讓使用者可延長3米以上者,則址埠不須測試。PMF(以IEC61000-4-8為依據)
EUT動作狀態,以滿足功能即可。
EUT須置於測試線圈之中心位置。
連接Cable製造者有附時,必須有此Cable為主,若測試時無法取得時,則須以同質Cable取代。
大型設備不須整個套入測試線圈中,僅對電源磁場頻率較易干擾的部份測試即可。如