磁粉检测用试片.doc
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磁粉检测用试片.doc
磁粉检测用试片本标准的试片用于验证磁粉检测综合性能(系统灵敏度)。A型试片,适用于在较宽大或平整的被检表面上使用:C型和D型试片,适用于较窄小或弯曲的被检表面。高灵敏度的试片,用于验证要求有较高检测灵敏度的磁粉检测综合性能,低灵敏度试片,用于验证要求较低检测灵敏度的磁粉检测综合性能。只有符合要求的磁粉检测综合性能,相应的磁粉检测结果才是有效的和可靠的。范围本标准规定了磁粉检测用试片(或灵敏度试片)的分类、技术要求和检验方法。本标准适用于试片的型式检验和出厂检验。本标准也可作为用户订货的验收依据。规范性引用
一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置.pdf
本发明公开了一种用于磁粉检测灵敏度校验的试片辅助装置,包括卡座支架和固定支架,所述卡座支架位于固定支架下方,卡座支架的下端设置有卡座,卡座支架上设置有缓冲结构;卡座支架和固定支架采用支杆结构连接,卡座支架设置有卡座和缓冲结构,解决了容易受被检工件表面条件影响等问题;支杆连接结构为空心杆结构,减轻重量,方便携带,并且支杆连接结构使得有足够的观察视野;固定支架的竖直支杆可插入所述卡座支架的竖直支杆中并通过卡扣结构固定,可以根据实际需求调整装置高度并且方便携带,可重复利用;固定支架上端设置有防磨垫,能减轻磁粉检
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磁粉探伤中A_130100与A_230100标准试片使用性能探讨.docx
磁粉探伤中A_130100与A_230100标准试片使用性能探讨随着现代工业制造技术的发展,设备出现了更高的工作要求和更敏感的安全等级。因此,磁粉探伤作为一种非破坏性检验技术被广泛应用。磁粉探伤技术可以检测出工件表面裂纹、缺陷、异物等隐蔽缺陷,以保障机器设备的运行安全。但作为一种高精度的探测技术,它也需要标准化的试片进行校准。本文将重点探讨A_130100与A_230100标准试片在磁粉探伤中的使用性能。一、A_130100与A_230100标准试片简介A_130100与A_230100标准试片是磁粉探伤