非易失性随机访问存储器测试系统及方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102737724A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102737724A(43)申请公布日2012.10.17(21)申请号201110086332.2(22)申请日2011.04.07(71)申请人鸿富锦精密工业（深圳）有限公司地址518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号申请人鸿海精密工业股份有限公司(72)发明人李明(51)Int.Cl.G11C29/48(2006.01)权利要求书权利要求书2页2页说明书说明书66页页附图附图55页(54)发明名称非易失性随机访问存储器测试系统及方法(57)摘要一种非易失性随机访问存储器测试方法，该方法包括：设置诊断模式的测试参数及压力模式的测试参数；初始化所设置的测试参数以得到诊断模式及压力模式；在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；生成诊断模式下进行测试的日志文件及压力模式下进行测试的日志文件。本发明还提供一种非易失性随机访问存储器测试系统。利用本发明测试人员可以不用停留在测试机台旁边，完全摆脱测试人员手动测试，程序自动侦测对BIOS中NVRAM的读写的开始和结束时间，指定保存文件后，相关的日志文件自动保存，方便测试人员查看。CN102734ACN102737724A权利要求书1/2页1.一种非易失性随机访问存储器测试方法，其特征在于，该方法包括：设置诊断模式的测试参数及压力模式的测试参数；初始化所设置的测试参数以得到诊断模式及压力模式；在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；及生成诊断模式下进行测试的日志文件及压力模式下进行测试的日志文件。2.如权利要求1所述的非易失性随机访问存储器测试方法，其特征在于，所述诊断模式的测试参数包括BIOS的版本号、关键字、延迟时间、开始时间、结束时间及测试结束后所生成的日志文件保存路径信息。3.如权利要求1所述的非易失性随机访问存储器测试方法，所述压力模式的测试参数包括BIOS的版本号、关键字、延迟时间、测试总次数及测试结束后所生成的日志文件保存路径信息。4.如权利要求1或2所述的非易失性随机访问存储器测试方法，其特征在于，所述在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试的步骤包括以下步骤：将计算机上保存的只读文件中的信息写入到BIOS的非易失性随机访问存储器；从非易失性随机访问存储器中读取信息；判断读取的信息与写入的信息是否一致；当判断读取的信息与写入的信息一致时，判断是否到达所设置的结束时间；当没有到达所设置的结束时间时，返回将计算机上保存的只读文件中的信息写入到BIOS的非易失性随机访问存储器的步骤；及当判断读取的信息与写入的信息不一致或者到达所设置的结束时间时，记录诊断模式下测试的信息。5.如权利要求1或3所述的非易失性随机访问存储器测试方法，其特征在于，所述在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试的步骤包括以下步骤：将计算机上保存的只读文件中的信息写入到BIOS的非易失性随机访问存储器；从非易失性随机访问存储器中读取信息；判断读取的信息与写入的信息是否一致；当读取的信息与写入的信息不一致时，记录读写操作出错的次数以及读写操作出错的原因；对读写操作的次数进行统计；判断统计的次数是否与所设置的测试次数一致；当统计的次数与所设置的测试次数不一致时，返回将计算机上保存的只读文件中的信息写入到BIOS的非易失性随机访问存储器的步骤；及当统计的次数与所设置的测试次数一致时，记录压力模式下测试的信息。6.一种非易失性随机访问存储器测试系统，其特征在于，该系统包括：设置模块，用于设置诊断模式的测试参数及压力模式的测试参数；初始化模块，用于初始化所设置的测试参数以得到诊断模式及压力模式；诊断模式测试模块，用于在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；压力模式测试模块，用于在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；2CN102737724A权利要求书2/2页及生成模块，用于生成诊断模式下进行测试的日志文件及压力模式下进行测试的日志文件。7.如权利要求6所述的非易失性随机访问存储器测试系统，其特征在于，所述诊断模式下测试的信息包括诊断模式下测试的起始时间、结束时间、关键字、读写操作出错的时间及测试结束后所生成的日志文件保存路径信息。8.如权利要求6所述的非易失性随机访问存储器测试系统，其特征在于，所述压力模式下测试的信息包括压力模式下测试的起始时间、关键字、结束时间、读写操作出错的次数，每次读写操作出错的时间、总的测试次数及及测试结束后所生成的日志文件保存路径信息。9.如权利要求7或8所述的