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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113624137A(43)申请公布日2021.11.09(21)申请号202111004902.9(22)申请日2021.08.30(71)申请人广东利元亨智能装备股份有限公司地址516057广东省惠州市惠城区马安镇新鹏路4号(72)发明人不公告发明人(74)专利代理机构北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)11463代理人蒋姗(51)Int.Cl.G01B11/00(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图3页(54)发明名称电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质(57)摘要本申请提供一种电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质,该电芯检测方法包括:根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据,所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片;测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离;基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。能够解决目前电芯检测工艺中检测准确性低的问题。CN113624137ACN113624137A权利要求书1/2页1.一种电芯检测方法,其特征在于,包括:根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据,所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片;测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离;基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据之前,所述方法包括:抓取所述隔膜的两条相邻边;基于所述隔膜的两条相邻边获取所述电芯的定位位置。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:采用中孔面光源照射所述电芯,并获取所述电芯的第二图像数据;基于所述第二图像数据检测所述电芯的隔膜区域是否暴露出所述阳极片或所述阴极片。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电芯为异形电芯,所述方法还包括:针对所述电芯的异形部分,基于检验参数对比所述异形部分的所述第一图像数据,以检测所述表层极片的所述异形部分的位置是否合格,所述检验参数包括极性、对比度和忽略点中的至少两项。5.一种电芯检测布光方法,其特征在于,包括:在电芯周围分别设置至少两个条形光源,所述条形光源与所述电芯位于同一水平面;设置点光源照射所述电芯,所述点光源在竖直方向上设置在所述电芯与摄像装置之间,所述点光源在水平方向上设置在所述摄像装置的视野之外,以在对所述电芯进行检测时,基于所述条形光源和所述点光源的照射,获取所述电芯的第一图像数据。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在所述摄像装置的镜头下方设置中孔面光源,所述摄像装置通过所述中孔面光源的通孔拍摄所述电芯,以在所述中孔面光源的照射下获取所述电芯的第二图像数据。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述条形光源和所述点光源的波长的范围为625‑630埃,所述中孔面光源的色温的范围为4500‑6500开尔文。8.一种电芯检测装置,其特征在于,包括:第一图像获取模块,用于根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据,所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片;测量模块,用于测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离;判断模块,用于基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括存储器和处理器,所述存储器中存储有程序指令,所述处理器运行所述程序指令时,执行权利要求1‑7中任一项所述方法中的步骤。10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有计算机程序指令,所述计算机2CN113624137A权利要求书2/2页程序指令被一处理器运行时,执行权利要求1‑7任一项所述方法中的步骤。3CN113624137A说明书1/8页电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质技术领域[0001]本申请涉及电芯检测领域,具体而言,涉及一种电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质。背景技术[0002]目前在叠片电芯的生产工艺中,常用不切断电芯隔膜连续堆叠的方式,在堆叠完成后对电芯进行激光切割,在切割后需要检测电芯的阴阳极片位置是否合格,但由于激光切割的影响,电芯隔膜会产生翘起、褶皱以及烧黑的情况,会对电芯检测造成影响,因此,在目前的电芯检测工艺中存在检测准确性低的问题。发明内容[0003]本申