用于检查显示装置的方法和用于制造显示装置的方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113690274A(43)申请公布日2021.11.23(21)申请号202110534529.1(22)申请日2021.05.17(30)优先权数据10-2020-00596512020.05.19KR(71)申请人三星显示有限公司地址韩国京畿道龙仁市(72)发明人李炯珍芮相宪吴世允(74)专利代理机构北京铭硕知识产权代理有限公司11286代理人张逍遥尹淑梅(51)Int.Cl.H01L27/32(2006.01)权利要求书2页说明书23页附图17页(54)发明名称用于检查显示装置的方法和用于制造显示装置的方法(57)摘要提供了一种用于检查显示装置的方法和一种用于制造显示装置的方法，所述用于检查显示装置的方法包括以下步骤：准备包括子像素的目标基底，在子像素中设置有发光元件；将子像素的第一区域中的每个划分为第二区域；获得第二区域中的每个的灰度值；使用灰度值来生成随机数；通过反映随机数中的变量来计算第一区域中的每个的代表值；以及对第一区域的代表值求和来计算子像素的发光元件的数量。CN113690274ACN113690274A权利要求书1/2页1.一种用于检查显示装置的方法，所述方法包括以下步骤：准备包括子像素的目标基底，在所述子像素中设置有发光元件；将所述子像素的多个第一区域中的每个划分为多个第二区域；获得所述多个第二区域中的每个的灰度值；使用所述灰度值来生成随机数；通过反映所述随机数中的变量来计算所述多个第一区域中的每个的代表值；以及对所述多个第一区域的所述代表值求和来计算所述子像素的所述发光元件的数量。2.根据权利要求1所述的方法，其中，获得所述灰度值的步骤包括通过使用包括感测部分的检查设备扫描所述目标基底的整个区域来获得图像，并且其中，通过模板匹配将所述目标基底的所述整个区域转换为单个图像。3.根据权利要求1所述的方法，其中，生成所述随机数的步骤包括使用所述多个第二区域中的每个的所述灰度值的最小值和最大值的蒙特卡罗模拟来生成所述随机数，并且其中，所述随机数是在所述最小值与所述最大值之间的被随机选择的值。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述变量是灰度值、微X值、微Y值、全局X值和全局Y值中的至少一个。5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述微X值是获得所述灰度值处的所述第一区域在对应的子像素中的位置的x坐标，所述微Y值是获得所述灰度值处的所述第一区域在所述对应的子像素中的所述位置的y坐标，所述全局X值是获得所述灰度值处的所述第一区域在所述目标基底中的位置的x坐标，并且所述全局Y值是获得所述灰度值处的所述第一区域在所述目标基底中的所述位置的y坐标。6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述灰度值、所述微X值和所述全局X值使所述随机数的值减小，并且所述微Y值和所述全局Y值使所述随机数的所述值增大。7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个第一区域中的每个的代表值与发光元件的对应的数量相关联。8.根据权利要求1所述的方法，其中，通过使用装备有感测部分的检查设备测量所述目标基底来获得所述多个第二区域中的每个的所述灰度值，并且其中，所述感测部分是时间延迟积分扫描相机。9.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括以下步骤：将所述子像素的所述发光元件的所述数量与参考值比较；以及基于比较步骤的结果来确定所述目标基底的状况。10.一种用于制造显示装置的方法，所述方法包括以下步骤：在包括子像素的目标基底上设置发光元件；用包括感测部分的检查设备扫描所述目标基底来获得图像；将所述子像素的多个第一区域中的每个划分为多个第二区域；获得所述多个第二区域中的每个的灰度值；2CN113690274A权利要求书2/2页使用所述灰度值生成随机数；通过反映所述随机数中的变量来计算所述多个第一区域中的每个的代表值；通过对所述多个第一区域的代表值求和来计算所述子像素的所述发光元件的数量；基于所述子像素的所述发光元件的所述数量来确定所述目标基底的状况；在所述目标基底上形成第一绝缘层；以及形成与所述发光元件接触的第一接触电极和第二接触电极。3CN113690274A说明书1/23页用于检查显示装置的方法和用于制造显示装置的方法技术领域[0001]公开涉及一种用于检查显示装置的方法和一种用于制造显示装置的方法。背景技术[0002]随着多媒体技术发展，显示装置变得越来越重要。因此，目前在使用诸如有机发光显示装置和液晶显示(LCD)装置的各种类型的显示装置。[0003]显示装置用于显示图像，并且可以包括诸如有机发光显示面板或液晶显示面板的显示面板。其中，发光显示面板可以包括发光元件。例如，发光二极管(LED)可以包括使用有机材料作为荧光材料的有机发光二极管(OLED)和使用无机材料作为荧光材料